考题
观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A、底片高度曝光B、X射线强度太高C、工件底部未加工D、背面散射
考题
底片处理时遭弯折损伤，会在底片上出现黑色类似手指掐伤的痕迹，这是何时发生弯折而引起的？（）A、曝光前B、曝光后C、定影后D、不一定
考题
由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊形式表现为（）A、底片的衬度差B、底片上出现斑点C、底片上发生严重灰雾D、底片的分辨率差
考题
底片冲洗所用的润湿剂其用途为（）A、可将底片加速干燥B、防止底片扭曲C、防止水痕迹D、以上都对
考题
咬边在射线底片上的特征是沿焊缝边缘呈黑色波浪状线条。（）
考题
显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受折D、曝光后胶片受折
考题
在X射线底片上由于被显影的晶粒分布不均而引起的密度不均匀痕迹叫做（）A、条纹B、粒度C、点D、白垢
考题
在射线检测中由于底片的种类、底片的处理、底片黑度或增感屏等因素所造成的对比度称为（）A、工件对比度B、底片对比度C、射线对比度D、品质对比度
考题
射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲。
考题
显影后呈现在底片上亮的皱褶痕迹是由于（）造成的A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受重物压迫D、曝光后胶片受重物压迫
考题
显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前拿胶片不当D、曝光后拿胶片不当
考题
为了提高观片效果，观片室环境的亮度应（）。A、 尽可能暗B、 尽可能亮C、 与透过底片光线亮度相同D、 能在底片上引起反射
考题
射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。
考题
单选题底片冲洗所用的润湿剂其用途为（）A
可将底片加速干燥B
防止底片扭曲C
防止水痕迹D
以上都对
考题
单选题观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，它很可能是由于（）的原因造成的A
底片高度曝光B
X射线强度太高C
工件底部未加工D
背面散射
考题
判断题射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲。A
对B
错
考题
单选题显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A
静电感光B
铅增感屏划伤C
曝光前胶片受折D
曝光后胶片受折
考题
判断题胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。A
对B
错
考题
单选题由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊形式表现为（）A
底片的衬度差B
底片上出现斑点C
底片上发生严重灰雾D
底片的分辨率差
考题
单选题在X射线底片上由于被显影的晶粒分布不均而引起的密度不均匀痕迹叫做（）A
条纹B
粒度C
点D
白垢
考题
判断题射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。A
对B
错
考题
单选题为了提高观片效果，观片室环境的亮度应（）。A
尽可能暗B
尽可能亮C
与透过底片光线亮度相同D
能在底片上引起反射
考题
单选题显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（）A
静电感光B
铅增感屏划伤C
曝光前拿胶片不当D
曝光后拿胶片不当
考题
单选题底片处理时遭弯折损伤，会在底片上出现黑色类似手指掐伤的痕迹，这是何时发生弯折而引起的？（）A
曝光前B
曝光后C
定影后D
不一定