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单选题
描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是()。
A

底面多次回波

B

探测面多次回波

C

杂波

D

共振信号


参考答案

参考解析
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考题 线性良好的超声波探伤仪,示波屏上的波高与声压成正比。() 此题为判断题(对,错)。

考题 在仪器示波屏上显示与缺陷无关信号来源有() A、轮廓的反射B、侧面效应C、表面状态D、任意

考题 描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅度信号的术语是() A、底面多次回波B、探测面多次回波C、杂波D、共振信号

考题 直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB,两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5% B.10% C.20% D.40%

考题 超声波探伤仪的动态范围是()。A、 示波屏上反射波高从刚满幅降到刚消失的分贝量B、 能分辨最近和最远的缺陷C、 声波能穿透工件的最大厚度D、 水平线性的均匀程度

考题 直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A、5%B、10%C、20%D、40%

考题 超声波探伤仪的动态范围是示波屏上反射波高从刚满幅降到刚消失时的分贝量。

考题 探伤仪示波屏上的波高与()成正比。

考题 零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号显示叫做()。A、底面反射B、表面反射C、缺陷反射D、杂波

考题 零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做()。A、 底面反射B、 表面反射C、 缺陷反射D、 杂波

考题 线性良好的超声波探伤仪,示波屏上的波高与声压成正比

考题 超声波探伤仪的脉冲重复频率()会出现扫描时示波屏上出现幻影,影响探伤。

考题 超声波探伤仪示波屏上有A、B、C三个波,A波比B波高2dB,C波比B波低2dB,已知B波高为示波屏满刻度的50%,求A波和C波高。

考题 超声波探伤中使用抑制会使示波屏显示的波高不在与输入信号的幅值成正比。

考题 描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是()。A、底面多次回波B、探测面多次回波C、杂波D、共振信号

考题 在超声波探伤仪示波屏上能显示的信号最大高度,称为()。A、距离—振幅高度B、吸收电平C、垂直极限D、分辨率极限

考题 探伤仪的抑制会使示波屏上显示的波高不与输入信号的幅值成正比。

考题 超声波探伤仪示波屏的亮度与(),(),()有关。

考题 在仪器示波屏上显示与缺陷无关信号来源有()。A、轮廓的反射B、侧面效应C、表面状态D、无穷多

考题 A型显示探伤仪,从示波屏上可获得的信息是:()。A、缺陷取向B、缺陷指示长度C、缺陷波幅和传播时间D、探伤仪的精度

考题 A型显示超声波接触法探伤图形中的始脉冲(不使用延迟扫描)是在()。A、示波屏最左侧的幅度较高的信号B、靠近示波屏右侧的第—个脉冲C、示波屏上时隐时现的一种信号D、示波屏左侧必定是第二个脉冲

考题 对于放大线性良好的超声波探伤仪,示波屏上的波高与声压成正比。

考题 判断题探伤仪的抑制会使示波屏上显示的波高不与输入信号的幅值成正比。A 对B 错

考题 单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A 5%B 10%C 20%D 40%

考题 问答题超声波探伤仪示波屏上有A、B、C三个波,A波比B波高2dB,C波比B波低2dB,已知B波高为示波屏满刻度的50%,求A波和C波高。

考题 多选题A型显示探伤仪,从示波屏上可获得的信息是:()。A缺陷取向B缺陷指示长度C缺陷波幅和传播时间D探伤仪的精度

考题 单选题在超声波探伤仪示波屏上能显示的信号最大高度,称为()。A 距离—振幅高度B 吸收电平C 垂直极限D 分辨率极限