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描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是()。
- A、底面多次回波
- B、探测面多次回波
- C、杂波
- D、共振信号
参考答案
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考题
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB,两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%
B.10%
C.20%
D.40%
考题
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A、5%B、10%C、20%D、40%
考题
单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A
5%B
10%C
20%D
40%
考题
单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A
没有底面回波B
有底面回波C
有大型缺陷回波,底面回波消失D
缺陷回波和底面回波同时存在
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