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单选题
用AVG方法进行定量评定时,不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果()
A

偏大

B

相同

C

偏小

D

在允许的误差范围以内


参考答案

参考解析
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考题 在具体对内部控制缺陷进行认定时,应考虑采用定性标准与定量标准相结合的方法予以综合确定。()此题为判断题(对,错)。

考题 在超声波检测法测量缺陷大小中,将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法被称作当量AVG曲线法。

考题 纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。A、 影响缺陷的定量B、 影响缺陷的定位C、 影响缺陷的定量 、定位D、 检测结果评级的影响

考题 用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 ()。     A、 可不考虑检测耦合差补偿B、 缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C、 可不使用试块D、 缺陷定量可不考虑衰减差修正

考题 由于射线照相存在影象放大现象,所以底片评定时,缺陷定量应考虑放大的影响。

考题 仪器及探头的性能、耦合与衰减、工件几何形状和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影响缺陷的定量。

考题 JB/T4730.3-2005标准规定,计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过()时,应 考虑衰减系数修正。A、 4dB/mmB、 4dB/mC、 0.4dB/mmD、 0.4dB/m

考题 JB3963-85标准规定采用()法和()法确定缺陷当量,如材质衰减系数超过(),应在()时作材质衰减修正

考题 何谓缺陷定量?简述缺陷定量方法有几种?

考题 用AVG方法进行定量评定时,不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果()A、偏大B、相同C、偏小D、在允许的误差范围以内

考题 利用工件底波校准检测灵敏度,由于是同材质,所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。

考题 用底波法调节锻件探伤灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的?()A、可不考虑探伤面耦合差补偿B、可采用计算法或AVG曲线法C、可不使用试块D、可不考虑材质衰减修正

考题 计算锻件缺陷当量时,当材质衰减系数超过()时,应考虑修正。

考题 用AVG方法进行定量评定时,不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果偏大

考题 超声探伤中所谓缺陷的指示长度,指的是()。A、采用当量试块比较法测定的结果B、对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D、缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同

考题 什么是缺陷定量?缺陷定量的方法有几种?

考题 单选题用底波法调节锻件探伤灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的?()A 可不考虑探伤面耦合差补偿B 可采用计算法或AVG曲线法C 可不使用试块D 可不考虑材质衰减修正

考题 问答题什么是缺陷定量?缺陷定量的方法有几种?

考题 单选题纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。A  影响缺陷的定量B  影响缺陷的定位C  影响缺陷的定量 、定位D  检测结果评级的影响

考题 判断题仪器及探头的性能、耦合与衰减、工件几何形状和尺寸、缺陷自身及缺陷位置都影响缺陷的定量。A 对B 错

考题 单选题射线探伤对零件内部缺陷进行定性、定量和定位分析的依据是().A 缺陷数据B 缺陷影像C 缺陷波形D 射线衰减程度

考题 单选题厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则:()A 两个缺陷当量相同B 材质衰减大的锻件中缺陷当量小C 材质衰减小的锻件中缺陷当量小D 以上都不对

考题 单选题用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 ()。A  可不考虑检测耦合差补偿B  缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C  可不使用试块D  缺陷定量可不考虑衰减差修正

考题 判断题在具体对内部控制缺陷进行认定时,应考虑采用定性标准与定量标准相结合的方法予以综合确定。A 对B 错

考题 填空题JB3963-85标准规定采用()法和()法确定缺陷当量,如材质衰减系数超过(),应在()时作材质衰减修正

考题 单选题超声波检测中所谓缺陷的指示长度,指的是()A 采用当量试块比较法测定的结果B 对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果C 根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D 缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同

考题 判断题利用工件底波校准检测灵敏度,由于是同材质,所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。A 对B 错