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绝缘的tgδ与哪些因素有关?


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考题 现场用tgδ值进行电气设备绝缘分析时,要求tgδ值不应有明显的增加。( )

考题 有关Tg的描述错误的是A、血清中的Tg来源于甲状腺组织B、Tg受TSH调节C、Tg的水平与合成Tg细胞分化程度无关D、Tg水平升高提示DTC复发E、血清中Tg抗体的存在可影响Tg的测定结果

考题 试述什么叫绝缘材料的老化?主要与哪些因素有关?

考题 送电线路绝缘配合与哪些因素有关?

考题 影响泄漏电流大小的因素除了与本身绝缘质量有关外,还包括哪些因素?

考题 空气绝缘强度和哪些因素有关?

考题 若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近A、0.003B、0.005C、0.045D、0.027

考题 为什么要测量绝缘介质的绝缘电阻?测量结果与哪些因素有关?

考题 有关Tg说法正确的是()A、血清中的Tg来源于甲状腺组织B、Tg受TSH调节C、Tg的水平与合成Tg细胞分化程度无关D、Tg水平升高提示DTC复发E、血清中Tg抗体的存在可影响Tg的测定

考题 在绝缘预防性试验中,tgδ是基本测试项目,当绝缘受潮或劣化时,tgδ急剧上升。绝缘内部是否普遍局部放电,也可以通过测介损与电压的关系曲线加以判断。

考题 一个由两部分并联组成的绝缘,其整体的tg∮等于该两部分的tg∮1与之tg∮2和。

考题 tg&的测试与发现绝缘内部缺陷的关系

考题 绝缘材料吸潮后致使绝缘材料的()增大,导致强度降低,有关性能遭到破坏。A、介电常数B、导电损耗C、介质损失角的正切tgδD、机械强度

考题 为什么要测量电器设备的绝缘电阻?测量结果与哪些因素有关?

考题 为什么要测量电气设备绝缘电阻?测量结果与哪些因素有关?

考题 当绝缘受潮、老化时,有功电流IR将增大,tgδ也增大。通过测量tgδ很灵敏地反映出绝缘的集中缺陷。

考题 符号TG表示()腕臂。A、套管B、非绝缘C、绝缘D、直线

考题 现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。

考题 一个由两部分并联组成的绝缘,其整体的tgδ等于该两部分的tgδ1与tgδ之和

考题 绝缘良好的tgδ不随电压的升高而明显增加。若绝缘内部有缺陷,则其tgδ将随电压的升高而明显增加。

考题 若设备组件之一的绝缘试验值为tgδ1=5%,C1=250pF;而设备其余部分绝缘试验值为tgδ2=0.4%,C2=10000pF,则设备整体绝缘试验时,其总的tgδ值与()接近。A、0.3%;B、0.5%;C、4.5%;D、2.7%。

考题 判断题在绝缘预防性试验中,tgδ是基本测试项目,当绝缘受潮或劣化时,tgδ急剧上升。绝缘内部是否普遍局部放电,也可以通过测介损与电压的关系曲线加以判断。A 对B 错

考题 问答题tg&的测试与发现绝缘内部缺陷的关系

考题 多选题最小安全净距与下列哪些因素有关?( )A电极的形状B冲击电压波形C过电压及其保护水平D绝缘配合

考题 问答题空气绝缘强度和哪些因素有关?

考题 判断题一个由两部分并联组成的绝缘,其整体的tg∮等于该两部分的tg∮1与之tg∮2和。A 对B 错

考题 问答题为什么要测量绝缘介质的绝缘电阻?测量结果与哪些因素有关?