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在小径管透照中,影像各处的几何不清晰度都是一致的。


参考答案

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考题 影响射线照相影像质量因素的清晰度之相关的几何因素包括()。 A、焦点尺寸B、焦距C、试样与胶片距离D、以上都是

考题 在射线照相检验中主要应考虑的不清晰度因素是()。 A、几何不清晰度B、胶片固有不清晰度C、两者都是

考题 射线检测时,使用透度计的主要目的是___。A.测量缺陷大小B.测量底片黑度C.测量几何不清晰度D.衡量透照底片的影像质量

考题 决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸的是影像的()A、对比度B、不清晰度C、颗粒度D、以上都是

考题 以下那一个因素会影像几何不清晰度()A、管电压B、曝光量C、焦距D、胶片类型

考题 以X射线对厚度60mm的工件进行透照,若胶片与增感屏在一定的管电压下的固有不清晰度Ui=0.2mm,当X光管焦点为φ2mm时,为保证底片不受几何不清晰度影响,焦距至少应选择多少mm?

考题 透照容器环焊缝时选择焦距的原则是:采用内透照法应优先考虑厚度比K和失真角θ;采用外透照法应优先考虑几何不清晰度Ug。

考题 小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。

考题 在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()A、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大B、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大C、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小D、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

考题 被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的有效焦点d=0.4mm,选用焦距f=600mm,求该底片的最大几何不清晰度是多少?

考题 射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量

考题 被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的焦点为d=0.4mm,选用焦距为600mm,试求最大半影宽度(即几何不清晰度)?

考题 改善透照底片的几何不清晰度可采用()A、小焦点、大焦距透照B、小焦点、小焦距透照C、选细微粒胶片D、铅箔增感

考题 用兆伏级射线设备时,增大焦距的目的主要是为了()A、增大照射场尺寸,从而获得一定的有效透照长度B、减小几何不清晰度,使Ug=Ui;C、使波长较长的入射线在空气中衰减掉D、以上都是

考题 下述哪些是在选择焊缝透照方式时必须确定的几何参数? ()A、焦距B、一次透照长度C、环焊缝100%透照时最少曝光数D、以上都是

考题 决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸(缺陷深度)的是影像的()。A、对比度B、不清晰度C、颗粒度D、以上都是

考题 在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。

考题 改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。A、小焦点大焦距B、大焦点小焦距C、铅箔增感屏D、高度胶片

考题 单选题射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A 测量缺陷大小B 测量底片黑度C 测量几何不清晰度D 衡量透照底片的影像质量

考题 单选题在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()A 其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大B 其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大C 其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小D 其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

考题 问答题被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的有效焦点d=0.4mm,选用焦距f=600mm,求该底片的最大几何不清晰度是多少?

考题 问答题以X射线对厚度60mm的工件进行透照,若胶片与增感屏在一定的管电压下的固有不清晰度Ui=0.2mm,当X光管焦点为φ2mm时,为保证底片不受几何不清晰度影响,焦距至少应选择多少mm?

考题 单选题用兆伏级射线设备时,增大焦距的目的主要是为了()A 增大照射场尺寸,从而获得一定的有效透照长度B 减小几何不清晰度,使Ug=Ui;C 使波长较长的入射线在空气中衰减掉D 以上都是

考题 判断题小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。A 对B 错

考题 单选题决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸的是影像的()A 对比度B 不清晰度C 颗粒度D 以上都是

考题 单选题改善透照底片的几何不清晰度可采用()A 小焦点、大焦距透照B 小焦点、小焦距透照C 选细微粒胶片D 铅箔增感

考题 判断题在小径管透照中,影像各处的几何不清晰度都是一致的。A 对B 错