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单选题
在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）
A

其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大

B

其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大

C

其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小

D

其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小

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考题 铁磁性试件表面缺陷的高度（）一定时，缺陷宽度越（），则漏磁场强度应越（）
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考题 在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小
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考题 要想得到良好的射线照相品质，则（）A、射源越小越好B、射源离试件越远越好C、底片离试件越近越好D、以上都对
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考题 铁磁性试件的磁感应强度和试件上的缺陷大小都一定时，则随着缺陷的埋藏深度越（），漏磁场强度就越（）
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考题 超声检测时只有在试块和试件探测面形状、厚度相同的条件下，才能进行材质差值的测定。
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