考题
锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。
A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
焊缝斜角探伤时,荧光屏上显示的反射波来自（ ）A.焊道
B.缺陷
C.结构
D.以上全部
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波
D.以上全部
考题
焊缝斜角探伤中，如采用直射法，可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响。
考题
表面波探伤时，仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
焊缝斜角探伤时，荧光屏上显示的反射波来自（）A、焊道B、缺陷C、结构D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例时为了：（）A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定结构反射波和缺陷波D、以上A和C
考题
斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A、近场效应B、受分辨力影响C、盲区D、受反射波影响
考题
锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部
考题
焊缝斜角探伤时，如采用直射法，应该考虑（）等干扰回波的影响。A、结构反射和变型波B、板材底面回波C、三角反射D、以上全部
考题
锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
焊缝斜角探伤中，裂纹等危害性缺陷的反射波幅总是很高的。（）
考题
表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）。A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离C、缺陷声程D、以上都可以
考题
焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A、缺陷定位B、判定缺陷波幅C、判定结构反射波和缺陷波D、判定缺陷性质
考题
焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）A、缺陷定位B、缺陷定量C、判定缺陷反射波和缺陷波D、以上A和C
考题
单选题焊缝斜角探伤时，荧光屏上的反射波来自：（）A
焊道B
缺陷C
结构D
以上全部
考题
判断题采用双探头串列法扫查焊缝时，位于焊缝深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出现在荧光屏上同一位置。A
对B
错
考题
单选题焊缝斜角探伤时，荧光屏上显示的反射波来自（）A
焊道B
缺陷C
结构D
以上全部
考题
单选题斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A
近场效应B
受分辨力影响C
盲区D
受反射波影响
考题
多选题焊缝斜探头探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）。A缺陷定位B判定缺陷波幅C判定结构反射波和缺陷波D判定缺陷性质
考题
单选题焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例时为了：（）A
缺陷定位B
缺陷定量C
判定结构反射波和缺陷波D
以上A和C
考题
单选题焊缝斜角探伤时，正确调节仪器扫描比例是为了（）A
缺陷定位B
缺陷定量C
判定缺陷反射波和缺陷波D
以上A和C
考题
判断题焊缝斜角探伤中，如采用直射法，可不考虑结构反射、变型波等干扰回波的影响。A
对B
错
考题
单选题锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
迟到波D
以上全部
考题
单选题焊缝斜角检测时，正确调节仪器扫描比例是为了：（）A
缺陷定位B
缺陷定量C
判断结构反射波和缺陷波D
以上A和C