考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷
考题
板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是()A.斜平行扫查
B.串列扫查
C.双晶斜探头前后扫查
D.交叉扫查
考题
对厚焊缝进行串列法探伤时，探头的移动方式分别为（）和（）两种串列扫查形式。
考题
板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是（）A、斜平行扫查B、串列扫查C、双晶斜探头前后扫查D、交叉扫查
考题
板厚100mm以上窄间隙焊缝作超声检验时，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方法时（）A、斜平行扫查B、串列扫查C、双晶斜探头前后扫查D、交叉扫查
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
考题
如果采用两个探头串列扫查技术检查板材或平板对接焊缝时，发现一个不连续性反射信号。该不连续性可能位于（）A、接近于前表面B、在底面附近C、在板的中部D、以上都有可能
考题
焊缝斜角探伤时，荧光屏上显示的反射波来自（）A、焊道B、缺陷C、结构D、以上全部
考题
焊缝斜角探伤时，荧光屏上的反射波来自：（）A、焊道B、缺陷C、结构D、以上全部
考题
厚焊缝采用串列法扫查时，如焊缝余高磨平，则不存在死区。
考题
双K1探头探测钢轨焊缝时，缺陷在轨腰部位仪器扫查过程中会产生（）次失底波现象。
考题
焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、（）、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。
考题
对接焊缝超探时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测（）A、横向裂纹B、夹渣C、纵向缺陷D、以上都不对
考题
在对接焊缝超探时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测：（）。A、横向裂缝B、夹渣C、纵向缺陷D、以上都对
考题
轨腰焊缝缺陷探伤方法有几种？双探头串列式探测如何确定轨腰缺陷的高度？
考题
在役焊缝双探头法宜用（）探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A、K1B、K2C、K3D、K0.8～K1
考题
判断题采用双探头串列法扫查焊缝时，位于焊缝深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出现在荧光屏上同一位置。A
对B
错
考题
问答题当用双探头法探测铝热焊缝时如何进行扫查？
考题
单选题板厚100mm以上窄间隙焊缝作超声检验时，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方法时（）A
斜平行扫查B
串列扫查C
双晶斜探头前后扫查D
交叉扫查
考题
填空题焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、（）、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。
考题
填空题双K1探头探测钢轨焊缝时，缺陷在轨腰部位仪器扫查过程中会产生（）次失底波现象。
考题
判断题厚焊缝采用串列法扫查时，如焊缝余高磨平，则不存在死区。A
对B
错
考题
单选题在对接焊缝超探时，探头平行于焊缝方向的扫查目的是探测：（）。A
横向裂缝B
夹渣C
纵向缺陷D
以上都对
考题
单选题板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中，为探测边缘未熔合缺陷，最有效的扫查方式是（）A
斜平行扫查B
串列扫查C
双晶斜探头前后扫查D
交叉扫查
考题
单选题在役焊缝双探头法宜用（）探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A
K1B
K2C
K3D
K0.8～K1
考题
填空题对厚焊缝进行串列法探伤时，探头的移动方式分别为（）和（）两种串列扫查形式。
考题
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A
平行于探测面的缺陷B
与探测面倾斜的缺陷C
垂直于探测面的缺陷D
不能用斜探头检测的缺陷