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实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()

  • A、与底片成像相同,黑度较大
  • B、与底片成像相同,黑度较小
  • C、与底片成像不同,黑度较大
  • D、与底片成像不同,黑度较小

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考题 实时射线检测法(ReAlTimeRT)与传统RT的最大区别在于()。 A、实时射线检测通常不采用底片B、实时射线检测通常采用电脑判读C、实时射线检测通常采用微焦点X光机D、实时射线检测通常使用在高能量RT

考题 X射线荧光法中的荧光指()A、一次射线B、二次射线C、三次射线D、四次射线

考题 射线检验是利用射线穿过材料或工件时的能量衰减来检测其内部缺陷。

考题 在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与曝光时间无关。

考题 射线检测就是利用射线(X射线、γ射线、中子射线等)穿过材料或工件时的强度衰减,检测其()不连续性的技术。A、内部结构B、外部结构C、整体D、表面

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考题 射线穿过试件时,其强度的减弱程度取决于试件的厚度和材质。

考题 实时射线检测法(Real TimeRT)与传统RT的最大区别在于()A、实时射线检测通常不采用底片B、实时射线检测通常采用电脑判读C、实时射线检测通常采用微焦点X光机D、实时射线检测通常使用在高能量RT

考题 射线检测利用的放射线属于()波,工业射线检测最常采用的射线源是()射线和()射线。

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考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

考题 在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

考题 在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与()无关。

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考题 渗透检测方法分为()两大类。A、X射线荧光屏观察法B、荧光法C、着色法D、煤油

考题 填空题射线检测利用的放射线属于()波,工业射线检测最常采用的射线源是()射线和()射线。

考题 单选题X射线荧光法中的荧光指()A 一次射线B 二次射线C 三次射线D 四次射线

考题 单选题实时射线检测法(Real TimeRT)与传统RT的最大区别在于()A 实时射线检测通常不采用底片B 实时射线检测通常采用电脑判读C 实时射线检测通常采用微焦点X光机D 实时射线检测通常使用在高能量RT

考题 单选题原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法

考题 单选题实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()A 与底片成像相同,黑度较大B 与底片成像相同,黑度较小C 与底片成像不同,黑度较大D 与底片成像不同,黑度较小

考题 单选题在射线检测中,利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为()A 直接照相法B 间接照相法C 透过照相法D 荧光照相法

考题 判断题射线检验是利用射线穿过材料或工件时的能量衰减来检测其内部缺陷。A 对B 错

考题 判断题射线穿过试件时,其强度的减弱程度取决于试件的厚度和材质。A 对B 错

考题 单选题射线检测就是利用射线(X射线、γ射线、中子射线等)穿过材料或工件时的强度衰减,检测其()不连续性的技术。A 内部结构B 外部结构C 整体D 表面

考题 单选题实时射线检测法(RealTimeRT)与传统RT的最大区别在于()A 实时射线检测通常不采用底片B 实时射线检测通常采用电脑判读C 实时射线检测通常采用微焦点X光机D 实时射线检测通常使用在高能量RT