考题
在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆,则应采用平面测帽进行。()
此题为判断题(对，错)。
考题
测长机它可()对被测工件长度作()测量,也可在量块或其它标准量具的配合下作()测量。
考题
在使用测长机测量球面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的平面测帽调整到正确的位置,其达到正确的位置时,测长机的示值应处于()。
A、最小值B、最大值C、一方位最大值，一方位最小值
考题
在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态,其达到正确状态时,测长机的示值应处于()。
A、最小值B、最大值C、一方位最大值，另一方位最小值
考题
测长机的测座上装有读数显微镜和光管,是用以读取测量结果的。()
此题为判断题(对，错)。
考题
大尺寸的常用测量方法有（）A、用大型通用量具测量B、用测长机测量C、用大型三坐标机测量D、用激光干涉仪测量
考题
在测长机上测量量块时，测长机两端的测帽应选为（）。A、狭平面的B、球面的C、小园平面的
考题
用测长机测量外螺纹中径是（）。A、直接测量B、间接测量C、接触式测量D、比较测量
考题
光栅按其形状和用途可以分为长光栅和圆光栅两类，长光栅用于长度测量，又称直线光栅，圆光栅用于（）测量。A、幅度B、角度C、位置D、位移
考题
几何量检测设备主要由端度、测长机和测长仪、（）、粗糙度和轮廓综合测量仪、（）、（）、平面度直线度测量、专用测试设备高精度仪器和标准器组成。
考题
闭环控制方式的移位测量元件应采用（）。A、长光栅尺B、旋转变压器C、圆光栅D、光电式脉冲编码器
考题
光栅测长机是一种（）。A、微型测长工具B、粗略型长度测量装置C、精密大尺寸计量仪器D、精密体积测量仪器
考题
激光测长机的测量方式是（）。A、光频测距B、脉冲测距C、相位测距D、直线测距
考题
光栅透射直线式是一种用光电元件把两块光栅移动时产生的明暗变化转变为电压变化进行测量方式的。
考题
用测长机测量直径为27mm钢园柱，测量时选作Ф=8mm的硬质合金平面测帽，所用测力为2.5N，求其接触变形量。
考题
量杆尺寸及测量面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块以比较法测量，对于平面测量量杆采用（）。A、平面测帽B、球平测帽C、刀口形测帽
考题
在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆，则应采用平面测帽进行。
考题
问答题用测长机测量直径为27mm钢园柱，测量时选作Ф=8mm的硬质合金平面测帽，所用测力为2.5N，求其接触变形量。
考题
单选题在测长机上测量量块时，测长机两端的测帽应选为（）。A
狭平面的B
球面的C
小园平面的
考题
填空题测长机它可（）对被测工件长度作（）测量，也可在量块或其它标准量具的配合下作（）测量。
考题
单选题量杆尺寸及测量面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块以比较法测量，对于平面测量量杆采用（）。A
平面测帽B
球平测帽C
刀口形测帽
考题
判断题在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆，则应采用平面测帽进行。A
对B
错
考题
多选题用测长机测量外螺纹中径是（）。A直接测量B间接测量C接触式测量D比较测量
考题
多选题大尺寸的常用测量方法有（）A用大型通用量具测量B用测长机测量C用大型三坐标机测量D用激光干涉仪测量
考题
单选题在使用测长机测量平面校对量杆时，需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态，其达到正确状态时，测长机的示值应处于（）。A
最小值B
最大值C
一方位最大值，另一方位最小值