考题
X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量
考题
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
考题
以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器
考题
在X射线荧光光谱仪的分光系统中，一般有（）个准直器。A、一B、二C、三
考题
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
考题
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
考题
波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成阳极丝的污染有由气体中的（）和淬灭气体甲烷的（）造成的等两种情况。A、杂质B、还原性C、分解D、碳粒
考题
X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都是采用光栅作为分光元件。
考题
能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
考题
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
考题
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
考题
波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。
考题
能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。
考题
（）是X射线光谱仪的检测器。A、光电管B、光电倍增管C、闪烁计数器D、真空热电偶
考题
X射线荧光光谱仪需要外接冷却水，其作用是为了冷却（）。A、X射线管B、分光室C、内部冷却水和X光管阴极灯丝
考题
顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
考题
通常可用来做X射线荧光分光晶体的是（）。A、NaFB、NaClC、LiF
考题
X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q，Q为品质因子，当计数率＜20kcps时，闪烁计数器的Q＜（），充Ar流气正比计数器的Q＜（）。
考题
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
考题
波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
考题
X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。
考题
Ｘ射线荧光光谱仪中，P-10气体是供给（）计数器使用的。A、SPCB、SCC、FPC
考题
填空题用于X射线衍射仪的探测器主要有（）、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管，其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。
考题
单选题利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）A
正比计数器B
盖革计数器C
闪烁计数器D
锂漂移硅检测器