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波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。

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考题 波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和（）元件组成。A、过滤器B、准直器C、反射D、色散
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考题 X射线荧光光谱仪探测器的能量分辨率主要是以（）表示。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪正常工作是有三个部件需要冷却，其中最需要冷却的是（）。
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考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
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考题 色散型X射线荧光光谱仪分为（）。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为（）。A、2年B、1年C、6个月
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合
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考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。A、混合B、连续C、单色D、散射
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考题 X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
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考题 X射线荧光光谱仪采用（）作为分光元件。A、棱镜B、光栅C、晶体D、入射狭缝
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流
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考题 X射线荧光光谱仪均使用分光晶体。
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考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫（）、（）和（）三种类型。
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考题 顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
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考题 X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的（）表示。A、标准偏差B、相对标准偏差C、极差D、误差
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
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考题 在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。
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考题 X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征
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考题 试从仪器的工作原理、仪器结构和应用三方面对波长色散型和能量色散型X荧光光谱仪进行比较。
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