考题
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
考题
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。A、计算法B、实验C、作图法D、回归方程
考题
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
考题
以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
考题
X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。
考题
不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是（）A、看谱分析B、手持X射线荧光光谱分析C、手持激光诱导击穿光谱分析D、光电直读光谱分析
考题
X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
考题
X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。
考题
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
考题
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
考题
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
考题
X射线管产生的X射线光谱，除连续X射线光谱外，还有阳极材料所产生的（）X射线光谱，且（）在连续谱之上。A、特征B、叠加C、散射D、发射
考题
X射线光谱分析中是以（）为分析依据的。A、连续光谱B、特征光谱C、锐线光源D、高速电子流
考题
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
考题
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
考题
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
考题
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
考题
X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。
考题
光谱按其外形可以分为（）。A、连续光谱，带状光谱和线状光谱B、连续光谱、离子光谱和分子光谱C、原子光谱、特征光谱D、特征光谱、分子光谱
考题
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
考题
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。A、激发B、叠加C、散射D、背景
考题
当管电压高于50kV时，获得的X射线谱是：（）A、只有标识光谱B、只有连续光谱C、有吸收光谱D、一定是连续光谱和标识光谱迭加在一起E、以上答案都不对
考题
判断题X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。A
对B
错
考题
判断题X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。A
对B
错
考题
单选题荧光灯光谱为（）A
线状光谱B
带状光谱C
连续光谱D
混合光谱
考题
单选题不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是（）A
看谱分析B
手持X射线荧光光谱分析C
手持激光诱导击穿光谱分析D
光电直读光谱分析