X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

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考题用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长。

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考题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。

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考题在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

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考题简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？

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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

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考题 X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。

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考题原子吸收光谱分析中光源的作用是（）A、提供试样蒸发和激发所需的能量B、发生强的连续光谱C、发射待测元素基态原子所吸收的特征谱线D、提供待测元素电离所需要的能量

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考题 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。

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考题 X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。

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考题 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。

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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是

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考题 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

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考题 X射线光谱分析中是以（）为分析依据的。A、连续光谱B、特征光谱C、锐线光源D、高速电子流

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考题 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。

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考题在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

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考题由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

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考题在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于

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考题 X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱

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考题 X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线

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考题 X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱

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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

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考题 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。A、激发B、叠加C、散射D、背景

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考题判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错

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考题多选题手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）AMoBBCSnDN

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