网友您好， 请在下方输入框内输入要搜索的题目：

题目内容 （请给出正确答案）

单光路红外分析仪为了防止强干扰组分的严重影响，进一步提高选择性，在测量气室前面要设置（）。

  • A、滤波气室
  • B、同步电机
  • C、干涉滤光片
  • D、光源发射器

参考答案

更多 “单光路红外分析仪为了防止强干扰组分的严重影响，进一步提高选择性，在测量气室前面要设置（）。A、滤波气室B、同步电机C、干涉滤光片D、光源发射器” 相关考题
考题 自动生化分析仪自动清洗吸加样针是为了A．提高分析精密度B．防止试剂干扰C．防止样品间的交叉干扰D．提高反应速度E．提高分析的灵敏度
查看答案
考题 自动生化分析仪自动清洗样品探针是为了 ( )A、防止试剂干扰B、提高分析精度C、提高加样速度D、提高反应速度E、防止交叉污染
查看答案
考题 全自动生化分析仪自动清洗吸样探针是为了A.提高分析精度B.防止试剂干扰C.防止交叉污染D.提高反应速度E.提高加样速度
查看答案
考题 自动生化分析仪自动清洗取样针是为了:() A、提高分析精密度B、防止试剂干扰C、防止样品间的交叉干扰D、提高反应速度
查看答案
考题 红外对射光路有遮挡物或干扰源时，应检查并清除遮挡物或干扰源。
查看答案
考题 自动生化分析仪自动清洗取样针是为了A.防止样品间的交叉干扰 B.防止试剂干扰 C.提高分析精密度 D.提高反应速度
查看答案
考题 与双光路红外分析仪相比单光路红外分析仪采用一个光源，参比测量共用一个光学通路，使其具有（）优点。A、结构简单B、可靠性高C、耐振性好D、灵敏度高
查看答案
考题 双光路红外线分析仪中干涉滤光片、滤波气室的作用是（）。A、去掉干扰组分B、增加光强C、平衡气路D、光路平衡
查看答案
考题 主动红外入侵探测器安装时，要注意（）A、防止入侵者从光路正面侵入B、防止入侵者从光路侧面侵C、防止入侵者从光路中间侵入D、防止入侵者从光路下方或上方侵入
查看答案
考题 单光路红外分析仪在切光片上装有两组（），用来将红外光源调制成两组不同波长范围的光束，分别作为测量光束与参比光束。A、滤波气室B、参比气室C、干涉滤光片D、光源反射镜
查看答案
考题 为了提高分析仪器的选择性，在实际流程中，有时会采取化学吸收法除去干扰组分，但采用这种方法时要非常小心，往往也会改变被测组分的含量，一定要通过各种（）证明所带来的误差是可以接受的。A、实验B、控制C、推断D、系统
查看答案
考题 简述样品中干扰组分对分析仪工作性能的影响。
查看答案
考题 红外线分析仪切光片的作用是（）。A、对红外光进行调制B、对红外光进行滤波C、对红外光进行放大D、对红外光进行分解
查看答案
考题 在干扰组分浓度高或与待测组分特征吸收波长交叉较多时，红外线分析仪一般采用（）进行滤波。A、参比气室B、干涉滤光片C、滤波气室D、测量气室
查看答案
考题 红外线分析仪参比气室内封装（）气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、混合气体
查看答案
考题 在利用红外分析仪测量CO时，（）是其主要的干扰组分。A、氢气B、氮气C、二氧化碳D、少量惰性气体
查看答案
考题 当红外线分析仪采用滤波气室时，滤波气室内封装（）气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、氮气
查看答案
考题 调整红外分析仪切光片轴心位置，使其处在两束红外光的对称点上。这种调整属于（）。A、相位平衡调整B、光路平衡调整C、零点校准D、量程校准
查看答案
考题 红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
查看答案
考题 红外线分析仪指示出现摆动干扰可能的原因是（）。A、晶片上有尘埃B、检测器漏气C、切光片松动D、元件老化
查看答案
考题 红外分析仪调校的主要内容有（）。A、相位平衡调整B、光路平衡调整C、零点校准D、量程校准
查看答案
考题 调整红外分析仪参比光路上的偏心遮光片（也称挡光板、光闸），改变参比光路的光通量，使测量、参比两光路的光能量相等。这种调整属于（）。A、相位平衡调整B、光路平衡调整C、零点校准D、量程校准
查看答案
考题 双光路红外分析仪有干扰组分存在时通常在测量气室前加（），用来克服背景气体的干扰。A、参比气室B、滤波气室C、过滤器组件D、相位调整器
查看答案
考题 红外分析仪的结构型式较多；分类方法各异，从采用的检测器类型来划分可分为（）。A、分光型和不分光型B、单光路和双光路C、色散型和非色散型D、薄膜电容检测器、半导体检测器和微流量检测器
查看答案
考题 红外分析仪切光片的作用是对红外光进行调制，常见的是（）切光片。A、半月形B、十字形C、单光路型D、以上都是
查看答案
考题 紫外成像检测，应尽量减少或避开电磁干扰或（）干扰源。A、强紫外光B、强红外光C、强阳光D、强激光
查看答案
考题 单选题自动生化分析仪自动清洗样品探针是为了（）A 防止试剂干扰B 提高分析精度C 提高加样速度D 提高反应速度E 防止交叉污染
查看答案
热门标签
最新试卷