考题
红外线气体分析仪的基本元件有：（）A、光源B、气室C、检测器D、切光器
考题
双光路红外线分析仪中干涉滤光片、滤波气室的作用是（）。A、去掉干扰组分B、增加光强C、平衡气路D、光路平衡
考题
红外线分析仪指示为零的原因有（）。A、样品压力小B、切光马达启动力矩不足C、光路透镜污染D、检测器电容短路
考题
光切法是引用（）测量表面粗糙度的一种方法。A、干涉原理B、光切原理C、比较方法
考题
单光路红外分析仪在切光片上装有两组（），用来将红外光源调制成两组不同波长范围的光束，分别作为测量光束与参比光束。A、滤波气室B、参比气室C、干涉滤光片D、光源反射镜
考题
热磁式氧分析仪指示值不稳或反复摆动，产生此种故障的原因有（）。A、样气压力不稳B、检测器恒温不好C、标准气变质D、直流稳压电源性能不好
考题
红外线分析仪测量气室或晶片被污染后，使仪器灵敏度下降，测量误差增大，在清洗气室及窗口晶片时，要选择相应的清洗剂，严禁破坏（）的光滑度。A、切光片B、气室内壁C、晶片D、参比室
考题
双光路红外线分析仪，零点气中若存在水分，仪器标定后引起的误差是（）。A、正误差B、负误差C、没有规律D、附加误差
考题
采用薄膜电容检测器的红外线分析仪切光频率的选择与（）有关。A、检测器的灵敏度B、切光片的几何尺寸C、光源强度D、切光马达
考题
红外线分析仪切光片的作用是（）。A、对红外光进行调制B、对红外光进行滤波C、对红外光进行放大D、对红外光进行分解
考题
常用紫外线气体分析仪的结构类型有（）。A、分光束式B、切光滤光式C、双光路滤光式D、分光式（光纤式）
考题
红外线分析仪光源老化可能引起的故障现象是（）。A、仪表指示回零B、仪表指示满度C、仪表灵敏度下降D、仪表指示出现摆动
考题
调整红外分析仪切光片轴心位置，使其处在两束红外光的对称点上。这种调整属于（）。A、相位平衡调整B、光路平衡调整C、零点校准D、量程校准
考题
红外线气体分析仪切光频率增高时，响应增快，仪器灵敏度（）。A、上升B、下降C、不变D、无法比较
考题
红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
考题
红外线分析仪指示出现摆动干扰可能的原因是（）。A、晶片上有尘埃B、检测器漏气C、切光片松动D、元件老化
考题
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染
考题
可能导致红外线分析仪指示满刻度的原因是（）。A、连接电缆断路B、电源电压不稳C、光路透镜污染D、检测器电容短路
考题
可能导致红外线分析仪灵敏度下降的原因有（）。A、样品流量大B、检测器漏气C、光路透镜污染D、元件老化
考题
相位调整的目的是使光同步，即切关片同时遮挡或同时离开红外光源，使测量边和参比边的光能相等，仪表校零时输出为（）。
考题
红外线气体分析仪红外光源经切光装置分别进入工作气室和参比气室进行比较，参比气室中充入对红外线不吸收的（）。A、氧气B、氮气C、一氧化碳D、二氧化碳
考题
电气系统故障电流表指示不稳定的原因为（）工作不稳定。
考题
不分光红外线气体分析仪中，由红外线光源、气样室、旋转扇轮（截光器）、测量室和传感器等组成的是（）。A、废气取样装置B、废气分析装置C、浓度指示装置
考题
测量光发射机的输出光功率和光接收机的输入光功率采用（）。A、光源B、光功率计C、OTDRD、光谱分析仪
考题
红外分析仪切光片的作用是对红外光进行调制，常见的是（）切光片。A、半月形B、十字形C、单光路型D、以上都是
考题
电气系统故障电流表指示不稳定；其原因为（）工作不稳定。
考题
单选题不分光红外线气体分析仪中，由红外线光源、气样室、旋转扇轮（截光器）、测量室和传感器等组成的是（）。A
废气取样装置B
废气分析装置C
浓度指示装置