考题
关于X射线"质"的描述错误的是A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短，穿透力越强E、X射线波长越长，X射线"质"越硬
考题
关于X线质,叙述正确的是
A、即X射线的强度B、由X射线的波长决定C、由X射线的频率决定D、X射线波长越短，穿透力越弱E、X射线波长越长，X射线质越硬
考题
关于X射线“质”的叙述，错误的是A.即X射线的强度B.由X射线的波长决定C.由X射线的频率决定D.X射线波长越短，穿透力越强E.X射线波长越长，X射线“质”越硬
考题
X射线行李包检查装置、牙科X射线机、X射线摄影装置和其它高于豁免水平的X射线机是Ⅲ类射线装置。
考题
X射线荧光光谱仪由光源、（）、（）和谱仪控制与数据处理系统组成。
考题
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
考题
X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。
考题
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合
考题
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
考题
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
考题
X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。A、X射线管B、高压电源C、初级电源D、控制器
考题
在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
考题
波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流
考题
X射线荧光光谱仪需要外接冷却水，其作用是为了冷却（）。A、X射线管B、分光室C、内部冷却水和X光管阴极灯丝
考题
由X射线光管产生的X射线是（）。A、连续X射线B、特征X射线C、连续X射线和特征X射线
考题
X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
考题
X射线荧光光谱仪电子测量系统由（）、放大器、（）和记录系统构成。
考题
顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
考题
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
考题
波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
考题
在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
考题
X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。
考题
判断题X射线行李包检查装置、牙科X射线机、X射线摄影装置和其它高于豁免水平的X射线机是Ⅲ类射线装置。A
对B
错
考题
单选题关于X射线"质"的描述错误的是（）A
即X射线的强度B
由X射线的波长决定C
由X射线的频率决定D
X射线波长越短，穿透力越强E
X射线波长越长，X射线"质"越硬