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在密度测井中，长源矩计数率受泥饼影响（），短源距受泥饼影响（）。

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考题 微电极测井曲线的探测深度浅,通过对泥饼影响的校正,可以确定出冲洗带电阻率。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 岩性密度测井受()的影响较大。 A、井径B、地层的电阻率C、泥饼D、钻井液的导电性
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考题 密度测井仪设计的短源距的目的是克服（）对测量的影响。A、泥饼B、泥浆C、井径
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考题 邻近侧向受泥饼影响最小，微侧向受泥饼影响较大，而微球形聚焦介于两者之间。
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考题 在渗透性层段上，微梯度的测量结果受（）影响大，而微电位主要受（）的影响。A、泥饼，冲洗带B、冲洗带，泥饼C、泥饼，井筒钻井液D、冲洗带，原状地层
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考题 泥炮泥缸尾部积泥故障，是由于泥饼小或泥饼磨损严重出现较大缝隙所致。
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考题 影响泥浆静失水的因素有泥饼的（）等。A、渗透性B、压力C、滤液密度D、作用时间
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考题 打泥后，（）保不住，泥饼后退，应将泥饼顶到原位并联系处理。
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考题 密度长源距探测器得到的伽玛射线主要是泥饼的贡献。
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考题 微球测井的探测深度受泥饼的影响（）微侧向。A、大于B、小于C、等于D、约等于
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考题 补偿密度测井使用两个探测器是为了补偿井壁泥饼和（）的影响。A、不规则井壁B、相邻地层C、泥浆电阻率D、泥浆相对密度大
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考题 微球形聚焦测井，其测量结果受泥饼影响（），径向探测深度也减（），所以它能较好的求出（）的电阻率。
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考题 在下列三种测井方法中（）测井受泥饼影响最小。A、邻近侧向B、微侧向C、微球形聚焦
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考题 补偿密度测井是利用长短源距探测出的密度差值补偿泥饼影响的密度测井。
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考题 钻井液侵入剖面依次为（）。A、井筒、泥饼、冲洗带B、泥饼、冲洗带、原状地层C、泥饼、侵入带、原状地层D、泥饼、冲洗带、过渡带
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考题 简述影响滤失量与泥饼质量的几种因素。
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考题 微电极测井曲线不能确定冲洗带电阻率及泥饼厚度。
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考题 为了减少井眼、套管、泥饼对测量的影响，补偿中子测井仪将两个He-3探测器安装在离中子源距离不同的位置上，用它们的两个计数率的比值来反映地层孔隙度的大小。
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考题 岩性密度测井仪本底各窗口的计数率（在稳谱状态）一般在下列范围：长源距窗口计数率（NLS）为（），短源距窗口计数率（NSS）为（）；岩性能窗口计数率（NLITH）为（）。
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考题 在测定Pe值时，需用（）低能窗也称岩性窗LITH能量在60keV～100keV的计数率和（）高能窗能量在200keV～549keV之间的计数率。A、长源距；长源距B、长源距；短源距C、短源距；短源距
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考题 在渗透行地层上，存在泥饼，使（）α不等于（），必须作校正，通常采用带有（）探测器的补偿密度测井仪。
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考题 密度测井使用双源距是为了补偿下列哪种因素对测量结果的影响（）A、井径变化B、存在泥饼C、地层含CLD、伽马射线的吸收
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考题 邻近侧向的探测范围比微侧向（），受泥饼影响程度比微侧向（）。A、大B、小C、相近
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考题 微球形聚焦测井与微侧向测井均可用来探测（）带，但前者受泥饼影响（）于后者。
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考题 简要说明微球聚焦测井仪极板Mo泥饼校正电极的作用。
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考题 单选题钻井液在失水过程中形成的胶结状泥糊称为泥饼，泥饼的量纲是（）。A cmB dmC mmD mm2
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考题 单选题岩性密度测井受（）的影响较大。A 井径B 地层的电阻率C 泥饼D 钻井液的导电性
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