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消除试剂误差的方法是()。

  • A、对照实验
  • B、校正仪器
  • C、选则合适的分析方法
  • D、空白试验

参考答案

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考题 滴定分析中,若怀疑试剂在放置中失效可通过()方法检验。A.仪器校正B.对照分析C.空白试验D.无合适方法

考题 消除系统误差的方法为( )。A.校正所用的仪器B.做对照实验C.做空白试验D.做预试验E.做回收试验

考题 消除系统误差的方法有哪些()。 A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验。

考题 在称量分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。A.对照试验B.空白试验C.方法校正D.仪器校正

考题 滴定分析中,若怀疑试剂在放置中失效可通过何种方法检验?( )A.仪器校正B.对照分析C.空白试验D.无合适方法

考题 由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器

考题 下列方法中可以减少分析方法偶然误差的是A.增加平行测定次数 B.进行分析结果校正 C.进行对照实验 D.进行空白试验 E.进行仪器校准

考题 滴定分析中,若怀疑试剂在放置中失效,可通过()方法检验。A、仪器校正B、对照分析C、空白试验

考题 滴定分析中,若怀疑试剂在放置中失效可通过()方法检验。A、仪器校正B、对照分析C、空白试验D、无合适方法

考题 消除或减免系统误差的方法有进行()A、对照试验B、重复实验C、空白试验D、仪器误差试验

考题 在称量分析中,所用试剂含有微量被测组分,应该进行()。A、对照试验B、空白试验C、方法校正D、仪器校正

考题 消除或减小试剂中微量杂质引起的误差常用的方法是()A、空白试验B、对照试验C、平行试验D、校准仪器

考题 在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是()。A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器的校正

考题 消除系统误差的方法有()。A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验

考题 滴定分析中,若怀疑试剂失效,可同通过()方法检验。A、仪器校正B、对照分析C、空白试验D、平行试验

考题 滴定分析中,若试剂含少量待测组分,可用于消除误差的方法是()。A、仪器校正B、空白试验C、对照分析D、多测几组

考题 消除测定中系统误差可以采取()措施A、选择合适的分析方法B、做空白试验C、增加平行测定次数D、校正仪器E、做对照试验

考题 在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器校正

考题 由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器

考题 下列哪种方式,可以减少分析方法的偶然误差()A、进行对照实验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、进行分析结果校正E、增加平行测定次数

考题 根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差

考题 滴定分析中,若试剂含少量待测组分,可用于消除误差的方法是().A、仪器校正B、空白试验C、对照分析

考题 滴定分析中,若怀疑试剂在放置中失效可通过何种方法检验()。A、仪器校正B、对照分析C、空白试验

考题 多选题消除测定中系统误差可以采取()措施。A选择合适的分析方法B做空白试验C增加平行测定次数D校正仪器E做对照试验

考题 单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A 对照分析B 空白试验C 增加平行试验D 校正仪器

考题 单选题根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正()A 方法误差B 仪器误差C 试剂误差D 操作误差

考题 多选题在下列方法中可以减少分析中系统误差的是()A增加平行试验的次数B进行对照实验C进行空白试验D进行仪器校正