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波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。

  • A、样品
  • B、晶体
  • C、选择性地
  • D、反射

参考答案

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考题 比较两条单色的X射线的谱线时注意到，谱线A在一个晶体的光滑面成30°的掠射角处给出第一级反射极大。已知谱线B的波长为0.097nm。谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的掠射角处，给出第三级的反射极大，则谱线A的波长为（　　）nm。A．0.148 B．0.158 C．0.168 D．0.178
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和（）元件组成。A、过滤器B、准直器C、反射D、色散
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考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪正常工作是有三个部件需要冷却，其中最需要冷却的是（）。
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考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
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考题 色散型X射线荧光光谱仪分为（）。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为（）。A、2年B、1年C、6个月
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合
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考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
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考题 荧光X射线的波长比原级X射线的波长长。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。A、混合B、连续C、单色D、散射
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流
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考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫（）、（）和（）三种类型。
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考题 顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
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考题 X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
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考题 X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征
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考题 下列关于X射线的本质的描述，正确的是（）A、只有X射线管球才能产生X线B、凡是X射线都可用于影像诊断C、X射线是一种波长很短的电磁波D、比红外线波长长E、波长范围为5～10nm
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 单选题比较两条单色的X射线的谱线时注意到，谱线A在一个晶体的光滑面成30°的掠射角处给出第一级反射极大。已知谱线B的波长为0.097nm。谱线B在与同一晶体的同一光滑面成60°的掠射角处，给出第三级的反射极大，则谱线A的波长为（）nm。A 0.148B 0.158C 0.168D 0.178
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考题 单选题下列关于X射线的本质的描述，正确的是（）A 只有X射线管球才能产生X线B 凡是X射线都可用于影像诊断C X射线是一种波长很短的电磁波D 比红外线波长长E 波长范围为5～10nm
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