考题
数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。
A、全闭环B、半闭环C、开环
考题
数控机床全闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统的主要区别在于()。
A.伺服控制单元B.位置控制器C.反馈单元的安装位置D.数控系统性能优劣
考题
数控机床的半闭环伺服系统中，用于角位移的检测元件通常有（）、（）、（）和（）。
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）A、位置控制器；B、检测单元；C、伺服驱动器；D、控制对象。
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环
考题
半闭环进给伺服系统数控机床，其定位精度主要取决于（）A、伺服单元B、检测装置的精度C、机床传动机构的精度D、控制系统E、数控装置
考题
对于半闭环的进给伺服系统，可采用（）、（）、（）作为检测装置。
考题
带有位置检测装置的进给系统一定是半闭环进给伺服系统。
考题
（）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、位置控制器B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
考题
数控机床闭环进给伺服系统的检测元件是（）A、角位移检测器B、直线位移检测器C、角速度检测器D、压力检测器
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统的主要区别在于（）。A、检测单元B、伺服单元C、位置控制器D、控制对象
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A、全闭环B、半闭环C、开环D、传动链
考题
在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A、半闭环伺服系统中B、开闭环伺服系统中C、半闭环和全闭环伺服系统中D、只用在全闭环伺服系统中
考题
采用进给伺服系统的数控机床的精度最低（）。A、闭环控制B、开环控制C、半闭环控制D、点位控制
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、数控单元B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
考题
单选题在（）数控机床安装有检测反馈装置用。A
半闭环伺服系统中B
开闭环伺服系统中C
半闭环和全闭环伺服系统中D
只用在全闭环伺服系统中
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环
考题
单选题采用进给伺服系统的数控机床的精度最低（）。A
闭环控制B
开环控制C
半闭环控制D
点位控制
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环D
以上皆可
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A
全闭环B
半闭环C
开环D
传动链
考题
单选题闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A
位置控制器B
控制对象C
伺服单元D
检测单元