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千分尺的尺架若变形，会造成测量杆轴线与固定测砧测量面（）

  • A、不平行
  • B、不垂直
  • C、不同轴
  • D、跳动

参考答案

更多 “千分尺的尺架若变形，会造成测量杆轴线与固定测砧测量面（）A、不平行B、不垂直C、不同轴D、跳动” 相关考题
考题 用千分尺测量工件时,先旋转微分套筒,当()时改用旋转棘轮,直到棘轮发出2－3下“卡卡”声时,开始读数 A、测砧与工件测量表面接近B、测砧远离工件表面C、测砧与测微螺杆接近D、测砧远离测微螺杆。
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考题 公法线千分尺用于测量齿轮公法线长度时，两个测砧的测量面做成相互垂直的圆平面。此题为判断题(对，错)。
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考题 壁厚千分尺的结构与千分尺基本相同，其测砧测量面为（）。A、平面B、球面C、圆柱面D、曲面
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考题 测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。
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考题 千分尺的机构主要由测微头、测砧、弓形架、测力装置、制动器等组成。
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考题 在使用深度千分尺测量时，测量杆中心轴线与被测工件的测量面保持（）。A、平行B、相交C、垂直D、没有关系
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考题 在使用杠杆千分尺测量时，杠杆干分尺应以测微螺杆的轴线方向压向工件测量面，使测砧处于不受力状态，这样才能确保杠杆的测力准确性。
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考题 三沟V形测砧千分尺的侧量面夹角是（）A、60°B、90°C、45°D、120°
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考题 千分尺主要由尺架、砧座、（）、棘轮装置和锁紧装置等组成。A、量爪B、指针C、横杆D、测微螺杆
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考题 使用深度千分尺测量时，不需要做（）。A、清洁底板测量面、工件的被测量面B、测量杆中心轴线与被测量工件测量面保持垂直C、去除测量部位毛刺D、抛光测量面
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考题 公法线千分尺用于测量齿轮的公法线长度，两个测砧的测量面做成相互垂直的圆平面。
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考题 使用深度千分尺寸测量时，不需要做（）。A、清洁底板测量面、工件的被测量面B、测量杆中心轴线与被测工件测量面保持垂直C、去除测量部位毛刺D、抛光测量面
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考题 V型测量砧千分尺的测量面夹角为（）A、30°B、60°C、120°D、90°
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考题 V形测砧千分尺是用于测量等分奇数槽零件外径尺寸的一种特殊测微量具。
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考题 三沟V形测砧千分尺的测量面夹角为（）。A、60°B、120°C、90°D、45°
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考题 使用千分尺测量零件前，应擦净测砧和测微螺杆端面并校准（）。
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考题 公法线千分尺用于测量齿轮公法线长度时，两个测砧的测量面做成相互垂直的圆平面。
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考题 外径千分尺测量杆靠近被测物时应改为旋动其（），以保证接触力度适宜。
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考题 使用千度千分尺测量时，不需要做（）。A、清洁底板测量面，工件被测量面B、测量杆中心轴线与被测工件测量面保持垂直C、去除测量部位毛刺D、抛光测量面
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考题 千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A、200mmB、300mmC、400mm
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考题 千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。
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考题 千分尺的读数机构由（）组成。A、固定套筒和微分套筒B、测砧和棘轮C、尺架和测砧D、尺架和微分套筒
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考题 判断题千分尺的机构主要由测微头、测砧、弓形架、测力装置、制动器等组成。A 对B 错
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考题 单选题壁厚千分尺的结构与千分尺基本相同，其测砧测量面为（）。A 平面B 球面C 圆柱面D 曲面
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考题 单选题在使用深度千分尺测量时，测量杆中心轴线与被测工件的测量面保持（）。A 平行B 相交C 垂直D 没有关系
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考题 判断题千分尺测微螺杆与测砧两轴线间偏差不能太大，否则会影响千分尺的准确度。A 对B 错
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考题 单选题千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移的检定是在平板上用杠杆百分表进行，对于测量范围大于（）的千分尺用百分表检定。A 200mmB 300mmC 400mm
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