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盲区即由探头到能够检测出缺陷位置的最小（）。

  • A、距离
  • B、长度
  • C、宽度
  • D、深度

参考答案

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考题 盲区即由探头到能够检测出缺陷位置的最小( )。 A.距离B.长度C.宽度D.深度
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考题 超声波检测中，显示屏上有用的最小缺陷信号幅度与无用的噪声杂波幅度比称为（）A、信噪比B、盲区C、分辨率D、灵敏度
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考题 双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。
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考题 焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
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考题 超声波横波斜探头检测中缺陷的评定应当包括（）A、缺陷水平位置B、缺陷垂直深度C、缺陷的性质D、缺陷的尺寸
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考题 下面关于各种探头作用的说法，哪一条是错误的？（）A、纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B、横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C、表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D、兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷
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考题 双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 高应变法对桩身浅部缺陷位置的判定存在盲区。
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考题 盲区是指从探测面到能发现缺陷的最小距离，与仪器的阻塞时间和始脉冲宽度有关。
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考题 超声波检测中避免在近场区定量的原因是（）。A、 近场区的回波声压很高，定量不准确B、 在近场区检测时，由于探头存在盲区，易形成漏检C、 在近场区检测时，处于声压极小值处较大缺陷回波可能较低；处于声压极大值处的较小缺陷可能回波较高，容易出现误判D、 以上都对
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考题 所谓磁粉检测的分辨率，是指可能观察到的最小缺陷磁痕显示和对它的位置、形状及大小的鉴别能力。
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考题 A型扫描显示中，盲区是指（）。A、 近场区B、 声束扩散角以外的区域C、 从检测面到能够发现缺陷的最小距离D、 以上都不是
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考题 单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。A、近场干扰B、衰减C、盲区D、折射
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考题 在焊接接头检测时，探头基本扫查方式包括哪几种？什么情况下应确定缺陷位置、最大反射波幅和缺陷定量？
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考题 双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。
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考题 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
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考题 判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A 对B 错
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考题 单选题下述无损检测中，能够检测锻件折叠缺陷的方法是（）A UT直探头直接接触法B UT斜直探头直接接触法C MT线圈磁化法D MT磁轭磁化法
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考题 填空题双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 单选题A型扫描显示中，盲区是指（）。A  近场区B  声束扩散角以外的区域C  从检测面到能够发现缺陷的最小距离D  以上都不是
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考题 判断题双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。A 对B 错
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考题 单选题单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。A 近场干扰B 衰减C 盲区D 折射
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考题 多选题超声波横波斜探头检测中缺陷的评定应当包括（）A缺陷水平位置B缺陷垂直深度C缺陷的性质D缺陷的尺寸
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考题 填空题双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。
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考题 单选题下面关于各种探头作用的说法，哪一条是错误的？（）A 纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B 横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C 表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D 兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷
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考题 判断题盲区是指从探测面到能发现缺陷的最小距离，与仪器的阻塞时间和始脉冲宽度有关。A 对B 错
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考题 单选题超声波检测中，显示屏上有用的最小缺陷信号幅度与无用的噪声杂波幅度比称为（）A 信噪比B 盲区C 分辨率D 灵敏度
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