考题
若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生 :()
A.过失误差;B.系统误差;C.仪器误差;D.偶然误差
考题
若试剂中含有微量被测组分,他对测定结果将产生()。
A、过失误差B、系统误差C、仪器误差D、偶然误差
考题
在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行()。A.对照试验B.空白试验C.校正方法D.校准仪器
考题
在称量分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行()。A.对照试验B.空白试验C.方法校正D.仪器校正
考题
分析测定中出现下列情况,何种属于随机误差:( )
A. 烘干基准物时没有达到恒重B. 滴定中所加试剂中含有微量的被测组分C. 滴定管未经校正D. 沉淀过程中沉淀有溶解E. 天平不等臂
考题
由于化学试剂不纯或蒸馏水中有微量杂质而引起的测量误差可做空白实验校正。此题为判断题(对，错)。
考题
下列情况造成何种误差：分析天平零点略有变动为( )误差;分析试剂中含有微量待测组分为( )误差。
考题
试剂中含有微量组分会引起( )。A.方法误差B.偶然误差C.过失误差D.试剂误差
考题
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A.滴定管读数不准B.试剂未充分混匀C.试剂中含有微量被测组分D.滴定管漏液
考题
试剂中含有微量被测组分所引起的误差属（）。A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对偏差
考题
试剂中含有微量被测组份所引起的误差属于（）。A、偶然误差B、相对偏差C、系统误差D、绝对误差
考题
在称量分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行（）。A、对照试验B、空白试验C、方法校正D、仪器校正
考题
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起的误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
考题
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
考题
当试剂中含有微量被测组份时，将引起什么误差（）。A、系统误差B、偶然误差C、过失误差
考题
滴定分析时，若所用试剂或水中含有被测组分，一般通过（）方法进行扣除。A、仪器校正B、对照分析C、空白实验D、多次测定
考题
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A、滴定管读数不准B、试剂未充分混匀C、试剂中含有微量被测组分D、滴定管漏液
考题
在滴定分析中，所用试剂含有微量被测组分，应该进行（）。A、对照试验B、空白试验C、校正方法D、校准仪器
考题
试剂中含有微量组分会引起（）A、方法误差B、偶然误差C、过失误差D、试剂误差
考题
滴定分析中，若试剂含少量待测组分，可用于消除误差的方法是（）。A、仪器校正B、空白试验C、对照分析D、多测几组
考题
下列情况引起的误差属于偶然误差的有（）。A、砝码腐蚀B、试剂中含有微量待测组分C、重量法测定SiO2时，试液中硅酸沉淀不完全D、样品称量过程中，环境温度和湿度微量波动
考题
标准溶液中含有微量被测组分造成的误差属于（）误差。A、偶然误差B、系统误差C、随机误差D、不确定误差
考题
下列情况所引起的误差中，不属于系统误差的是：（）A、移液管转移溶液后残留量稍有不同；B、称量时使用的砝码锈蚀；C、天平的两臂不等长；D、试剂里含有微量的被测组分
考题
若试剂中含有微量被测组分，对测定结果将产生（）A、过失误差；B、系统误差；C、仪器误差；D、偶然误差
考题
滴定分析中，若试剂含少量待测组分，可用于消除误差的方法是（）.A、仪器校正B、空白试验C、对照分析
考题
单选题若试剂中含有微量被测组分，对测定结果将产生（）A
过失误差；B
系统误差；C
仪器误差；D
偶然误差