考题
若试剂中含有微量被测组分,对测定结果将产生 :()
A.过失误差;B.系统误差;C.仪器误差;D.偶然误差
考题
下列情况所引起的误差中,不属于系统误差的是 :()
A.移液管转移溶液后残留量稍有不同;B.称量时使用的砝码锈蚀;C.天平的两臂不等长;D.试剂里含有微量的被测组分
考题
若试剂中含有微量被测组分,他对测定结果将产生()。
A、过失误差B、系统误差C、仪器误差D、偶然误差
考题
分析测定中出现的下列情况，何种属于偶然误差( )。A.滴定时所加试剂中含有微量的被测物质B.滴定管读取的数偏高或偏低C.所用试剂含干扰离子D.室温升高
考题
下列情况造成何种误差：分析天平零点略有变动为( )误差;分析试剂中含有微量待测组分为( )误差。
考题
标准溶液中含有微量被测组分造成的误差属于( )。A.偶然误差B.系统误差C.随机误差D.不确定误差
考题
试剂中含有微量组分会引起( )。A.方法误差B.偶然误差C.过失误差D.试剂误差
考题
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A.滴定管读数不准B.试剂未充分混匀C.试剂中含有微量被测组分D.滴定管漏液
考题
分析过程中，若加入的试剂含有少量被测离子，所引入的误差应属于( )A.仪器误差
B.试剂误差
C.随机误差
D.方法误差
E.操作误差
考题
试剂中含有微量被测组分所引起的误差属（）。A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对偏差
考题
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起的误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
考题
试剂中含有微量被测组分，未经抵消校正所引起误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、过失误差
考题
试剂含有微量杂质所引起误差属（）A、公差B、随机误差C、系统误差D、绝对误差
考题
在分析测定中，下面情况哪些是属于系统误差（） ①天平的两臂不等长； ②滴定管的读数看错； ③试剂中含有微量的被测组分； ④在沉淀重量法中，沉淀不完全。A、①②；B、①③；C、②③；D、①③④。
考题
当试剂中含有微量被测组份时，将引起什么误差（）。A、系统误差B、偶然误差C、过失误差
考题
试剂中含有微量被测组分，未做空白校正所引起的误差是（）A、偶然误差B、系统误差C、绝对误差
考题
分析测定中出现的下列情况，何种属于偶然误差（）。A、滴定是所加试剂中含有微量的被测物质B、滴定管读取的数偏高或偏低C、所用试剂含有干扰离子D、室温升高
考题
在滴定分析中，出现（）的情况可导致系统误差。A、滴定管读数不准B、试剂未充分混匀C、试剂中含有微量被测组分D、滴定管漏液
考题
试剂中含有微量组分会引起（）A、方法误差B、偶然误差C、过失误差D、试剂误差
考题
下列情况引起的误差属于偶然误差的有（）。A、砝码腐蚀B、试剂中含有微量待测组分C、重量法测定SiO2时，试液中硅酸沉淀不完全D、样品称量过程中，环境温度和湿度微量波动
考题
标准溶液中含有微量被测组分造成的误差属于（）误差。A、偶然误差B、系统误差C、随机误差D、不确定误差
考题
下列情况所引起的误差中，不属于系统误差的是：（）A、移液管转移溶液后残留量稍有不同；B、称量时使用的砝码锈蚀；C、天平的两臂不等长；D、试剂里含有微量的被测组分
考题
若试剂中含有微量被测组分，对测定结果将产生（）A、过失误差；B、系统误差；C、仪器误差；D、偶然误差
考题
下列情况对测定结果带来的误差，属于系统误差的是（）A、使用的器皿不洁净B、试剂中含有微量的待测组分C、天平内温度的波动D、滴定管漏水
考题
单选题标准溶液中含有微量被测组分造成的误差属于（）误差。A
偶然误差B
系统误差C
随机误差D
不确定误差
考题
单选题若试剂中含有微量被测组分，对测定结果将产生（）A
过失误差；B
系统误差；C
仪器误差；D
偶然误差