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（）、（）和（）三种光分析方法是利用线光谱进行检测的。

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考题 同一物质对不同波长的光吸收程度不同，溶液所呈现的颜色是它所吸收光的互补色是下列哪项检测技术的检测原理A.发射光谱分析法B.漫射光谱分析法C.散射光谱分析法D.反射光谱分析法E.吸收光谱分析法
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考题 下列关于旋光法的叙述正确的是( )A.利用测定物质的旋光度来进行定性分析的方法 B.利用测定物质的旋光度来进行定性、定量和杂质检查的方法 C.利用测定物质的旋光度来进行杂质检查的方法 D.利用测定物质的旋光度来进行定量分析的方法 E.利用测定物质的旋光度来进行定性、定量分析的方法
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考题 焊缝无损检测方法中，用于检测焊缝内部无损检测方法是（ ）。 A.光谱分析 B.渗透检测 C.磁粉检测 D.射线检测
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考题 原子光谱（发射、吸收与荧光）三种分析方法中均很严重的干扰因素是（）。A、谱线干扰B、背景干扰C、杂散干扰D、化学干扰
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考题 利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。
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考题 下列叙述错误的是（）。A、拉曼光谱与红外光谱产生的机理相同B、红外光谱的入射光及检测光均是红外光C、拉曼光谱可U分析固体、液体和电体样品D、红外光谱不能有水作溶剂
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考题 原子光谱（发射、吸收与荧光）三种分析方法中均很严重的干扰因素是（）。A、光谱线干扰B、背景C、杂散光D、化学干扰
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考题 荧光分析法是根据物质的（）进行物质鉴定和含量测定。A、荧光谱线位置B、浓度C、粘度D、荧光强度E、发射光
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考题 利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。
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考题 原子发射光谱是利用谱线的波长及其强度进行定性何定量分析的，被激发原子发射的谱线不可能出现的光区是（）A、紫外；B、可见；C、红外；D、不确定
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考题 原子发射光谱分析所用仪器装置中通常不会包含（）A、提供能量，使物质蒸发和激发的光源；B、把复合光分解为单色光的分光仪；C、进行光谱信号检测的检测器；D、迈克尔逊干涉仪
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考题 利用物质分子吸收光或电磁辐射的性质，建立起来的分析方法属于吸收光谱分析。
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考题 ICP焰炬的（）具有适宜的激发温度，能使试样在此既较充分的原子化、激发、发射离子线和原子线，背景发射光谱强度又较低，一般情况下多用此区进行光谱分析。A、预热区B、初始辐射区C、测光区（内焰区）
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考题 光学光谱以其外形可分为线光谱、 带光谱和连续光谱， 试问可见吸收光谱法和原子吸收光谱法各利用何种形式的光谱进行测定？
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考题 常见光谱分析中，原子吸收、（）和原子荧光三种光分析方法的分析对象为线光谱。
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考题 在光学分析法中，基于光的吸收、发射和拉曼散射等作用，通过测定光谱的波长和强度来进行计量的分析方法，称（）。
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考题 发射光谱定性分析识别谱线的主要方法有标准光谱图比较法和（）。
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考题 填空题常见光谱分析中，原子吸收、（）和原子荧光三种光分析方法的分析对象为线光谱。
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考题 填空题在光学分析法中，基于光的吸收、发射和拉曼散射等作用，通过测定光谱的波长和强度来进行计量的分析方法，称（）
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考题 单选题光谱分析是利用（）对光谱的（）进行物质化学成分及含量分析的物理方法。A 原子和分子/吸收B 原子和分子/发射C 原子和分子/吸收和发射D 原子/发射和吸收
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考题 单选题光谱分析是利用（）对光谱（）进行物质化学成分及含量分析的物理方法。A 原子和分子；吸收B 原子和分子；发射C 原子和分子；吸收和发射D 原子；发射和吸收
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考题 判断题利用物质分子吸收光或电磁辐射的性质，建立起来的分析方法属于吸收光谱分析。A 对B 错
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考题 问答题光学光谱以其外形可分为线光谱、 带光谱和连续光谱， 试问可见吸收光谱法和原子吸收光谱法各利用何种形式的光谱进行测定？
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考题 多选题荧光分析法是根据物质的（）进行物质鉴定和含量测定。A荧光谱线位置B浓度C粘度D荧光强度E发射光
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考题 单选题在油液监测技术中，利用磁性原理监测润滑油中铁磁性磨粒的在线检测方法是（）。A 光谱分析B 铁谱分析C 磁塞检测D 机械杂质测定
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考题 单选题光谱分析法是通过检测油样中金属磨粒进行故障诊断的方法，目前（）分析法是应用广泛、仪器先进的现代化的检测技术。A 发射光谱B 吸收光谱C 铁谱D 质谱
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