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通常试件的缺陷可能在底片上显示为()

  • A、较黑部分
  • B、较白部分
  • C、以上都对
  • D、以上都错

参考答案

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考题 钢结构进行射线探伤时,射线穿过有缺陷部位后在底片上显示更黑。( )

考题 像质计的功用是()A、显示缺陷的大小B、显示底片的黑度C、显示底片的对比度D、显示照相的品质

考题 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。

考题 什么是伪缺陷?简述底片上伪缺陷的来源。

考题 底片判读时发现很多小而无害的显示,则该显示为()A、错误显示B、无关显示C、有关显示D、缺陷

考题 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是

考题 RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应()A、缩小射线至底片的距离,且将底片紧贴试件B、增加射线至底片的距离,且将底片紧贴试件C、缩小射线至底片的距离,且将底片远离试件D、增加射线至底片的距离,且将底片远离试件

考题 底片因刮伤、擦伤、手纹、污染等造成的显示是()A、缺陷B、瑕疵C、错误显示D、无关显示

考题 从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是

考题 底片判读时发现有一条状似裂纹的黑线,经判定为增感屏刮伤所致,则该显示为()A、错误显示B、无关显示C、有关显示D、缺陷

考题 夹钨为钨极惰性气体焊接(TIG)钨棒熔融夹入焊缝内,通常在底片上显示为()A、白色圆点B、黑色圆点C、白色线条D、黑色线条

考题 焊缝底片判读时,发现底片有夹渣显示,则该显示为()A、错误显示B、无关显示或不相关显示C、相关显示D、缺陷

考题 底片判读如为缺陷,则该缺陷为()A、错误显示B、无关显示或不相关显示C、相关显示D、缺陷

考题 铸件射线底片上出现清晰的黑线或长度与宽度不等,轮廓光滑分明的带状显示,则大多数是()缺陷。

考题 下列有关漏磁通的叙述正确的是()。A、内部缺陷处的漏磁通,比同样大小的表面缺陷为大B、缺陷的漏磁通通常同试件上的磁通密度成反比C、表面缺陷的漏磁通密度,随着离开表面距离的增加而急剧减弱D、用有限线圈磁化长的试件,不需进行分段磁化

考题 ()对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。

考题 厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的()。

考题 焊缝射线照相底片上常见缺陷()、()、()和()。

考题 焊接缺陷在射线底片上呈现不同程度的黑色,较黑的斑点和条纹即是缺陷。若底片上多呈现带曲折的、波浪状的黑色条纹即是()缺陷。A、未焊透B、夹渣C、裂纹

考题 单选题底片判读如为缺陷,则该缺陷为()A 错误显示B 无关显示或不相关显示C 相关显示D 缺陷

考题 单选题从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A 底片成象颗粒度B 底片上缺陷图像不清晰度C 底片上缺陷图像对比度D 以上都是

考题 单选题底片判读时发现很多小而无害的显示,则该显示为()A 错误显示B 无关显示C 有关显示D 缺陷

考题 问答题透照某试件时,放在焦点侧试件表面的象质计最小可见线径为0.25mm,以此作为底片1,此时散射比n1=1.4,然后用铅光阑和屏蔽板时散射比n2=0.5,再摄一张同黑度的底片,以此作为底片2,假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变。底片2上同一直径的金属丝影象对比度是底片1上的几倍?

考题 单选题底片因刮伤、擦伤、手纹、污染等造成的显示是()A 缺陷B 瑕疵C 错误显示D 无关显示

考题 单选题焊缝底片判读时,发现底片有夹渣显示,则该显示为()A 错误显示B 无关显示或不相关显示C 相关显示D 缺陷

考题 单选题通常试件的缺陷可能在底片上显示为()A 较黑部分B 较白部分C 以上都对D 以上都错

考题 单选题像质计的功用是()A 显示缺陷的大小B 显示底片的黑度C 显示底片的对比度D 显示照相的品质