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用连续法检测时，检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关，还受被检工件材质的影响。

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考题 射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。A对B错
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考题 用底波法校准锻件检测灵敏度适用于锻件被检部位厚度小于3N 锻件。
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考题 磁粉检测法检测时，必须边磁化边向被检部位表面喷洒磁悬液，每次磁化时间为（），磁悬液浇到工件表面后再通电（）。
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考题 以下哪些是目视检测的必要检测条件（）A、被检工件表面的光照度应至少达到500Lx。B、眼睛与被检工件的夹角应大于30°。C、眼睛距离被检区域的距离应不超过600mm。D、目视检测时一定要使用放大镜
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考题 被检工件表面的油污对便携式X射线合金分析仪（光谱议）影响不大，实际检测时可不去除油污。
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考题 用连续法检测时，检测灵敏度几乎不受被检工件材质的影响，仅与被检工件表面磁场强度有关。
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考题 JB/T4730.4-2005标准规定：非荧光磁粉检测时，被检工件表面的可见光照度应大于等于1000Lx。
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考题 考虑检测灵敏度补偿的理由是（）。A、 被检工件厚度太大B、 工件底面与检测面不平行C、 耦合剂有较大声能损耗D、 工件与试块材质、表面光洁度有差异
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考题 标准试块主要用于检验磁粉检测的系统灵敏度，确定被检工件的磁化规范。
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考题 渗透检测仅用于检测被检工件的（）缺陷。A、内部B、表面开口C、近表面
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考题 射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。
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考题 磁粉检测用于检测被检工件（）缺陷。A、表面B、近表面C、表面和近表面D、内部
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考题 检测线圈与被检工件相对运动的探伤叫做（）
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考题 超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、曲面工件E、工件与试块材质、表面状态不同
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考题 检测线圈与被检工件相对静止的探伤叫做（）
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考题 判断题被检工件表面的油污对便携式X射线合金分析仪（光谱议）影响不大，实际检测时可不去除油污。A 对B 错
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考题 单选题渗透检测仅用于检测被检工件的（）缺陷。A 内部B 表面开口C 近表面
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考题 填空题磁粉检测法检测时，必须边磁化边向被检部位表面喷洒磁悬液，每次磁化时间为（），磁悬液浇到工件表面后再通电（）。
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考题 判断题用连续法检测时，检测灵敏度几乎不受被检工件材质的影响，仅与被检工件表面磁场强度有关。A 对B 错
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考题 判断题用连续法检测时，检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关，还受被检工件材质的影响。A 对B 错
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考题 判断题射线照相检测和超声检测可用于检测被检工件内部和表面的缺陷。A 对B 错
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考题 单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是（）。A  被检工件厚度太大B  工件底面与检测面不平行C  耦合剂有较大声能损耗D  工件与试块材质、表面光洁度有差异
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考题 单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是：（）A 被检工件厚度太大B 耦合剂有较大声能损耗C 工件与试块材质、表面粗糙度有差异D 工件底面与检测面不平行
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考题 多选题超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A被检工件厚度太大B工件底面与探测面不平行C耦合剂有较大声能损耗D曲面工件E工件与试块材质、表面状态不同
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考题 单选题目视检测时光线的方向应（）A 有利于缺陷的清晰显示B 垂直入射到被检件表面C 平行与被检件表面D 必须与被检件成30°角
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考题 多选题以下哪些是目视检测的必要检测条件（）A被检工件表面的光照度应至少达到500Lx。B眼睛与被检工件的夹角应大于30°。C眼睛距离被检区域的距离应不超过600mm。D目视检测时一定要使用放大镜
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考题 单选题磁粉检测用于检测被检工件（）缺陷。A 表面B 近表面C 表面和近表面D 内部
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