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表示胶片受到一系列X射线量照射时，显影后的底片黑度发生相应变化的曲线，叫做：（）
- A、曝光曲线
- B、灵敏度曲线
- C、胶片特性曲线
- D、吸收曲线
参考答案
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考题
射线检测是依靠射线照射在工件上，透射后的射线强度根据物质的种类、厚度和密度而变化，利用射线的照相作用、荧光作用等特性，将这个变化记录在胶片上，经显影后形成底片的黑度变化，根据底片黑度的变化可了解工件内部结构状态，达到检查出缺陷的目的。下列关于射线检测的说法中不正确的是（ ）A.对体积型缺陷（气孔、夹渣类）检出率高
B.面积性缺陷（裂纹、未熔合类）如果照相角度不适当，容易漏检
C.适宜检验角焊缝，不适宜检验对接焊缝
D.检测成本高、速度慢；射线对人体有害
考题
使用铅箔增感屏可以缩短曝光时间，提高底片的黑度，其原因是铅箔受X射线或γ射线照射时（）A、能发出荧光从而加速胶片感光B、能发出可见光从而使胶片感光C、能发出红外线从而使胶片感光D、能发出电子从而使胶片感光
考题
射线照相的依据是（）A、射线在穿透物质过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射而使其强度减弱B、强度衰减程度取决于物质的衰减系数和在物质中穿越的厚度C、底片上各点的黑化程度取决于射线照射量，由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同，底片上相应部位就会出现黑度差异D、以上都对
考题
曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定（）A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件
考题
曝光过程中，与X射线胶片紧密接触的铅增感屏可提高底片黑度，其原因是（）。A、铅增感屏会产生可见光和荧光B、铅屏可吸收散射线C、防止背散射造成胶片灰雾D、铅屏受X射线和γ射线照射会发生二次电子
考题
根据JB/T4730.2-2005标准规定，以下关于底片黑度范围的叙述，正确的是：（）A、底片评定范围内的黑度规定与检测技术等级有关B、用X射线或γ射线透照小径管时，AB级最低黑度允许降至1.5C、采用多胶片方法时，单片观察的的黑度应不低于1.3D、若有计量报告证明观片灯亮度满足要求，可对D＞4.0底片进行评定
考题
用X射线对金属试件进行探伤检查时，与基体金属相比，试件中的气孔、非金属夹渣对射线的吸收能力如何？（）A、低，所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度高。B、低，所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度低。C、高，所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度高。D、高，所以X射线感光胶片上对应于缺欠的部位影像黑度低。
考题
单选题使用铅箔增感屏可以缩短曝光时间，提高底片的黑度，其原因是铅箔受X射线或γ射线照射时（）A
能发出荧光从而加速胶片感光B
能发出可见光从而使胶片感光C
能发出红外线从而使胶片感光D
能发出电子从而使胶片感光
考题
单选题曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定（）A
X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B
X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C
X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D
X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件
考题
单选题表示胶片曝光量和得到的底片黑度之间的关系曲线称为（）A
胶片特性曲线B
曝光曲线C
不清晰度D
被摄物对比度
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