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系统误差可以用（）、空白试验、校正仪器等方法加以校正。

  • A、对照试验
  • B、滴定试验
  • C、多次平行测定
  • D、二次平行测定

参考答案

更多 “系统误差可以用（）、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A、对照试验B、滴定试验C、多次平行测定D、二次平行测定” 相关考题
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考题 可以减免分析测试中系统误差的方法是() A、进行仪器校正B、认真细心操作C、作空白试验D、增加平行测定次数
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考题 可用下述那种方法减少滴定过程中的偶然误差() A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、进行多次平行测定
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考题 消除系统误差的方法有哪些()。 A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验。
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考题 可用于减小测定过程中偶然误差的方法()。 A、对照试验B、空白试验C、校正仪器D、增加平行测定次数
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考题 系统误差可以用对照试验、空白试验、（）等方法加以校正。A.多次平行测定B.二次平行试验C.校正仪器D.滴定试验
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考题 可用如下哪种试验方法减小分析测定中的偶然误差?( )A.对照试验B.空白试验C.多次平行测定D.校准仪器
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考题 为了提高测定的准确度，通常需要消除测定中的系统误差，下列的各种措施中哪一种不能消除测定中的系统误差()。A.空白试验B.校正仪器C.对照试验D.增加平行测定次数
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考题 减少分析方法中偶然误差的方法可采用A、进行空白试验B、加校正值的方法C、进行对照试验D、增加平行测定次数E、进行回收试验
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考题 下列方法中( )可以减少分析中的偶然误差。A.进行空白试验B.进行对照试验C.仪器进行校正D.增加平行测定次数
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考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
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考题 系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A.对照试验B.滴定试验C.多次平行测定D.二次平行测定
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考题 关于减少系统误差所采用的方法不正确的是A.标准方法对照法 B.多次平行测定取平均值 C.空白试验 D.对照试验 E.校正仪器
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考题 减少分析测定中偶然误差的方法为( )A.进行分析结果校正 B.进行仪器校准 C.进行对照试验 D.进行空白试验 E.增加平行测定次数
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考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是（）A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
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考题 可用下述那种方法减少滴定过程中的偶然误差（）。A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、增加平行测定次数
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考题 下列关于系统误差产生原因说法不正确的是（）。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中，滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差
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考题 系统误差可以用对照试验、空白试验、（）等方法加以校正。A、多次平行测定B、二次平行试验C、校正仪器D、滴定试验
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考题 在以下各项措施中，可以减小分析测试中的偶然误差的是（）。A、进行仪器校正B、增加平行测定次数C、对照试验D、空白试验
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考题 消除系统误差的方法有（）。A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验
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考题 为了提高测定的准确度，通常需要消除测定中的系统误差，下列的各种措施中哪一种不能消除测定中的系统误差（）。A、空白试验B、校正仪器C、对照试验D、增加平行测定次数
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考题 下列方法中（）可以减少分析中的偶然误差。A、进行空白试验B、进行对照试验C、仪器进行校正D、增加平行测定次数
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考题 消除测定中系统误差可以采取（）措施A、选择合适的分析方法B、做空白试验C、增加平行测定次数D、校正仪器E、做对照试验
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考题 下列哪项方法对减少系统误差帮助不大（）。A、对照试验B、空白试验C、重复试验D、仪器校正E、干扰试验
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考题 下列哪种方式，可以减少分析方法的偶然误差（）A、进行对照实验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、进行分析结果校正E、增加平行测定次数
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考题 可用于减小测定过程中偶然误差的方法是（）A、对照试验B、空白试验C、校正仪器D、增加平行测定次数
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考题 多选题消除测定中系统误差可以采取（）措施。A选择合适的分析方法B做空白试验C增加平行测定次数D校正仪器E做对照试验
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