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超声波探测曲截面时,反射回波无变化,这是因为气孔的声阻抗很高。


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考题 超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法

考题 长轴类锻件从端面作轴向超声波探测时,容易出现的非缺陷回波是()。 A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波

考题 超声波通过异质薄层时,声压反射率和透过率不仅与()声阻抗和()声阻抗有关,而且与()与()之比有关。

考题 超声波探测气孔时,反射波较低,这是因为()。A、气孔表面是光滑的B、气孔内充满了空气C、气孔通常是球形,其反射波是发散的D、以上都不是

考题 探测分散的气孔反射波较低,这是因为()A、气孔内充满了空气B、气孔通常是园球形,其反射波是发散的C、气孔表面通常是很光滑的。

考题 在确定缺陷当量时,通常在获得缺陷的最高回波时加以测定,这是因为:()A、只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准

考题 超声波探测气孔时,反射波(),这是因为气孔通常是球形,其反射波是发散的。A、较高B、不变C、较低D、以上都不对

考题 当两种介质声阻抗的大小差异很小时,超声波入射后的声压反射率()。A、 无变化B、 很高C、 很低D、 以上都不对

考题 探测气孔时,超声波反射回波较低,这是因为气孔通常是球形,其反射波是()的。

考题 超声波检测分散的气孔缺陷时,反射波较低,这是因为()。A、气孔表面通常是光滑的B、气孔内充满了空气C、气孔通常是或近似圆球形,其反射波是发散的D、以上都不是

考题 超声波探测曲截面时,反射回波发散,这是因为()对波有发散作用。

考题 探测气孔时,超声波反射回波较低,这是因为气孔通常是球形,其反射波是发散的。

考题 超声波探测气孔时,反射波不变,这是因为气孔通常是()的,其反射波是()的。

考题 因为0°探头探测轨腰水平裂纹时有回波显示,所以0°探头采用的探伤方法是脉冲反射法和穿透法。

考题 超声波探测分散的气孔,反射波较低,主要原因是()。A、气孔内有空气B、气孔表面光滑C、气孔发射反射波D、气孔聚集反射波

考题 当介质Ⅰ的声阻抗远远大于介质Ⅱ,超声波从介质Ⅰ入射到介质Ⅱ的凹曲面时,反射波()。A、 产生发散现象B、 产生聚焦现象C、 无变化D、 消失

考题 37°探头探测垂直裂纹时,无回波显示是因为()。A、无反射回波B、探头灵敏度低C、接收不到反射波D、声束扩散

考题 单选题探测分散的气孔反射波较低,这是因为()A 气孔内充满了空气B 气孔通常是园球形,其反射波是发散的C 气孔表面通常是很光滑的。

考题 单选题超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是()A 反射法B 穿透法C 底面多次回波法D 底面一次回波反射法法

考题 单选题当两种介质声阻抗的大小差异很小时,超声波入射后的声压反射率()。A 无变化B 很高C 很低D 以上都不对

考题 单选题超声波探测气孔时,反射波较低,这是因为()。A 气孔表面是光滑的B 气孔内充满了空气C 气孔通常是球形,其反射波是发散的D 以上都不是

考题 单选题超声波探测气孔时,反射波(),这是因为气孔通常是球形,其反射波是发散的。A 较高B 不变C 较低D 以上都不对

考题 单选题超声波检测分散的气孔缺陷时,反射波较低,这是因为()A 气孔表面通常是光滑的B 气孔内充满了空气C 气孔通常是或近似圆球形,其反射波是发散的D 以上都不是

考题 单选题37°探头探测垂直裂纹时,无回波显示是因为()。A 无反射回波B 探头灵敏度低C 接收不到反射波D 声束扩散

考题 单选题下列关于反射系数的描述中,错误的是( )A 两种介质声阻抗相同时,反射系数为0B 两种介质声阻抗相差很大时,反射系数大C 两种介质声阻抗只要有1‰的差异就会产生反射回波D 声束垂直于界面入射时可得到最佳反射效果E 当一种介质声阻抗值很小时,反射系数总是很小

考题 单选题超声波探测分散的气孔,反射波较低,主要原因是()。A 气孔内有空气B 气孔表面光滑C 气孔发射反射波D 气孔聚集反射波

考题 单选题当介质Ⅰ的声阻抗远远大于介质Ⅱ,超声波从介质Ⅰ入射到介质Ⅱ的凹曲面时,反射波()。A 产生发散现象B 产生聚焦现象C 无变化D 消失