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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。

  • A、 平行且靠近探测面
  • B、 与声速方向平行
  • C、 与探测面成较大角度
  • D、 平行且靠近底面

参考答案

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考题 探测面与工件底面不平行时（ ）。A.导致荧光屏图象中失去底面回波B.难以对平行于入射面的缺陷进行定位C.通常表示在金属中存在疏松状态D.减小试验的穿透力
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考题 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面 B.与声束方向平行 C.与探测面成较大角度 D.平行且靠近底面
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考题 锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，宽度较大
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考题 垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
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考题 锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，回波包络宽度较大
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考题 大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D、以上三种原因都是
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考题 锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响
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考题 下面哪种参考反射体与入射声束角度无关：（）A、平底孔B、平行于探测面且垂直于声束的平底槽C、平行于探测面且垂直于声束的横通孔D、平行于探测面且垂直于声束的V型缺口
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考题 探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。
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考题 在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷C、AB都对D、AB都不对
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考题 斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、一致
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考题 在A型探伤中，F波幅度较高，与T波的距离较接近，下列哪些说法不正确（）。A、缺陷横截面积较大，且较接近探测表面B、缺陷横截面积较大，且较接近底面C、缺陷横截面积较小，但较接近探测表面D、缺陷横截面积较小，但较接近底面
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考题 纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射
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考题 单选题下面哪种参考反射体与入射声束角度无关：（）A 平底孔B 平行于探测面且垂直于声束的平底槽C 平行于探测面且垂直于声束的横通孔D 平行于探测面且垂直于声束的V型缺口
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考题 单选题探测面与工件底面不平行时（）A 导致荧光屏图像中失去底面回波B 难以对平行于入射面的缺陷进行定位C 通常表示在金属中存在疏松状态D 减小试验的穿透力
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考题 填空题垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）
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考题 单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）A 无底面回波或底面回波降低B 难以发现平行探测面的缺陷C 声波穿透能力下降D 缺陷回波受底面回波影响
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考题 单选题大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A 锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B 探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C 锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D 以上三种原因都是
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考题 单选题锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A 反射波峰尖锐B 反射波稳定但较波幅低C 反射波幅低，回波包络宽度较大
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考题 单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面
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考题 单选题锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A 反射波峰尖锐B 反射波稳定但较波幅低C 反射波幅低，宽度较大
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考题 单选题在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是（）A 与表面成较大角度的平面缺陷B 反射条件很差的密集缺陷C AB都对D AB都不对
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考题 单选题斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。A 平行B 垂直C 倾斜D 一致
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