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用底面反射的方法校准探测灵敏度时，底面所在的部位可以是任意的。（）

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考题 超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法
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考题 当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时，将使底面反射率降低，底波高度下降，这样调节的灵敏度会()。A.不变B.降低C.提高D.变化不确定
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考题 用底面反射的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 验算地基承载力时，下列符合基础底面的压力性质的是( )。A.基础底面压力可以是均匀分布的压力 B.基础底面压力可以是梯形分布的压力 C.基础底面压力是总压力 D.基础底面压力是附加压力
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考题 验算地基承载力时，下列哪些选项是符合基础底面的压力性质的?( ) A．基础底面的压力可以是均匀分布的压力 B．基础底面的压力可以是梯形分布的压力 C．基础底面的压力可以是总压力 D．基础底面的压力可以是附加压力
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考题 对于300mm厚的实心钢锻件，要求探伤灵敏度为Ø2，平底孔当量超声波频率为2.5MHz，若用底面回波反射法调节探伤灵敏度，当底面反射回波达到基准高度后，应提高多少的增益量（）A、36dBB、38dBC、41dBD、45dB
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考题 斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波，底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在
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考题 采用大平底反射波探测锻件时，一定注意底面的（）
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考题 用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。
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考题 用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。A、无缺陷B、有规则的缺陷C、有小缺陷D、以上均不是
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考题 在探测工件侧壁附近的缺陷时，由于存在着（），所以探伤灵敏度会明显偏低。A、侧壁干扰B、61°角反射波C、工件底面不平D、以上都对
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考题 在一定灵敏度下探测材料时，材质衰减越大则底面回波（）
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考题 TB/T2658.21-2007规定，探伤仪动态范围测量，连接探头并在试块上探测（）反射波作为参照波.A、厚度25mm底面B、厚度50mm底面C、厚度100mm底面D、任一底面
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考题 当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时，将使底面反射率降低，底波高度下降，这样调节的灵敏度将会（）。A、不变B、偏低C、偏高D、任意
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考题 斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
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考题 用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件，探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径，试用底面法调整探伤灵敏度。（CL＝5900m/s）
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考题 用底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在的部位可以是任意的。
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考题 用试块的方法校准探测灵敏度时，为了避免修正，应采用实物对比试块。
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考题 单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A 没有底面回波B 有底面回波C 有大型缺陷回波时底面回波消失D 有大型缺陷回波时有底面回波
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考题 判断题用试块的方法校准探测灵敏度时，为了避免修正，应采用实物对比试块。A 对B 错
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考题 单选题超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是（）A 反射法B 穿透法C 底面多次回波法D 底面一次回波反射法法
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考题 单选题探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（）A 与探测面平行的大平底面B R200的凹圆柱底面C R200的凹球底面D R200的凸圆柱底面
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考题 判断题用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。A 对B 错
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考题 单选题当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时，将使底面反射率降低，底波高度下降，这样调节的灵敏度将会（）。A 不变B 偏低C 偏高D 任意
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考题 判断题用底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在的部位可以是任意的。A 对B 错
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考题 填空题采用大平底反射波探测锻件时，一定注意底面的（）
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考题 单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A 没有底面回波B 有底面回波C 有大型缺陷回波，底面回波消失D 缺陷回波和底面回波同时存在
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