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CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

  • A、测定斜探头K值
  • B、测定直探头盲区范围
  • C、测定斜探头分辨率
  • D、以上全部

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考题 IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。
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考题 CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值
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考题 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
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考题 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 A、 1.2B、 2C、 1.86D、 以上都不对
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考题 CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
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考题 CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
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考题 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
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考题 CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
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考题 利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
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考题 CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A、直探头盲区B、直探头穿透能力C、直探头盲区和穿透能力D、上述都不能测
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考题 试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
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考题 用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
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考题 IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
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考题 阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。A、斜探头B、直探头C、聚焦探头D、可变角探头
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考题 用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
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考题 判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A 对B 错
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考题 判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A 对B 错
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考题 判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。A 对B 错
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考题 判断题斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。A 对B 错
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考题 判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。A 对B 错
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考题 判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A 对B 错
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考题 单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A 测定斜探头K值B 测定直探头盲区范围C 测定斜探头分辨力D 以上全是
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考题 单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A  直探头的的远场分辨力B  斜探头的K值C  斜探头的入射点D  斜探头的声束偏斜角
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考题 单选题CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A 入射点B 折射角C 分辨率D K值
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考题 单选题阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。A 斜探头B 直探头C 聚焦探头D 可变角探头
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考题 判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A 对B 错
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考题 单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A 不变B 变化
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