考题
下列属于国际标准试块的是()
A、CSK—IBB、STB—GC、RBD、IIW
考题
下列属于日本标准试块的是()
A、CSK—IBB、STB—GC、RBD、IIW
考题
CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值
考题
CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）
考题
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
考题
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
考题
对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时，采用的对比试块最好是（）A、IIW2试块B、IIW1试块C、实际工件试块D、任何平底孔试块都可以
考题
IIW试块的主要用途是测试探伤仪和探头的性能。
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
《钢轨探伤管理规则》规定，探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。
考题
70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
考题
0°探头分辨率的测定应使用（）。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块
考题
国际焊接学会的IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能？
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
考题
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A
对B
错
考题
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
问答题如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？
考题
判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
填空题CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）
考题
判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
问答题我国的CSK－IA试块与IIW试块有何不同？德国和日本对IIW试块作了哪些修改？
考题
判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
判断题《钢轨探伤管理规则》规定，探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。A
对B
错
考题
单选题CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A
入射点B
折射角C
分辨率D
K值