考题
利用WGT-3试块上∮3×80横通孔可测定0°探头( )。A、分辨力B、穿透力C、声轴偏斜角D、盲区
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。
考题
阶梯试块主要用于测定0°探头（即直探头）的距离幅度特性和（）特性。
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A、直探头盲区B、直探头穿透能力C、直探头盲区和穿透能力D、上述都不能测
考题
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
考题
国际焊接学会的IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能？
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
考题
阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。A、斜探头B、直探头C、聚焦探头D、可变角探头
考题
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
考题
阶梯试块主要用于测定直探头的距离幅度特性和阻塞范围。
考题
单选题阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。A
斜探头B
直探头C
聚焦探头D
可变角探头
考题
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A
对B
错
考题
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
问答题如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？
考题
判断题当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时，荧光屏上的多次反射回波是等距离的。A
对B
错
考题
判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
填空题阶梯试块主要用于测定0°探头（即直探头）的距离幅度特性和（）特性。
考题
单选题CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A
直探头盲区B
直探头穿透能力C
直探头盲区和穿透能力D
上述都不能测
考题
判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A
对B
错
考题
单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A
不变B
变化
考题
单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A
不变B
变化
考题
判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
判断题阶梯试块主要用于测定直探头的距离幅度特性和阻塞范围。A
对B
错