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（请给出正确答案）
射线探伤时，使用像质计的主要目的是（）。
- A、测量缺陷的大小
- B、测量缺陷的位置
- C、测量缺陷的几何不清楚度
- D、确定底片的彩像质量
参考答案
更多 “射线探伤时，使用像质计的主要目的是（）。A、测量缺陷的大小B、测量缺陷的位置C、测量缺陷的几何不清楚度D、确定底片的彩像质量” 相关考题
考题
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
考题
以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
考题
有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
考题
下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对
考题
以下有关对比试验的说法正确的是（）A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时，可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对
考题
单选题以下有关对比试验的说法正确的是（）A
像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B
如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时，可通过对比试验进行修正C
像质计应横跨焊缝放置D
以上都对
考题
单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A
摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B
采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C
当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D
以上都对
考题
单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A
像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B
像质计形状与尺寸都是已知的C
像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D
像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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