考题
超声波探伤,若仪器的重复频率过高,示波屏上将产生()信号,易造成错判。A.草状回波B.固定回波C.幻像D.杂波
考题
超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生( )信号，易造成错判。A、草状回波B、固定回波C、幻像D、杂波
考题
在仪器示波屏上显示的被检工件底面反射信号称底面回波。()
此题为判断题(对，错)。
考题
在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（ ）。A.杂波B.始波C.发射脉冲D.底面回波
考题
直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对
考题
检工件晶粒粗大，通常会引起（）A、草状回波增多B、信噪比下降C、底波次数减少D、以上全部
考题
对于超声波检测中的脉冲反射法，若工件内存在缺陷，超声波会在缺陷处反射，仪器显示屏上会有发射脉冲T、底面回波B和缺陷回波F。
考题
铸造金属的晶粒一般比较粗大，在超声波检测中会引起（）A、底面回波降低或消失B、信噪比降低C、穿透能力下降D、草波升高
考题
被检工件晶粒粗大，通常会引起：（）A、草状回波增多B、信噪比下降C、底波次数减少D、以上全部
考题
穿透探伤时如发现底面回波与始波间有可疑回波出现，应进行裂纹分析。
考题
与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在
考题
探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。
考题
描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是（）。A、底面多次回波B、探测面多次回波C、杂波D、共振信号
考题
超声波探伤频率的选择，频率上限一般由衰减（底波出现状况）和（）信号的大小来决定。A、伤波B、脉冲波C、迟到回波D、草状回波
考题
在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A、杂波B、始波C、发射脉冲D、底面回波
考题
被检工件晶粒粗大，通常会引起（）。A、草状回波增多B、信噪比下降C、底波次数减少D、以上的全部或部分现象发生
考题
判断题对于超声波检测中的脉冲反射法，若工件内存在缺陷，超声波会在缺陷处反射，仪器显示屏上会有发射脉冲T、底面回波B和缺陷回波F。A
对B
错
考题
单选题被检工件晶粒粗大，通常会引起（）。A
草状回波增多B
信噪比下降C
底波次数减少D
以上的全部或部分现象发生
考题
单选题超声波探伤，若仪器的重复频率过高，示波屏上将产生（）信号，易造成错判.A
草状回波B
固定回波C
幻像D
杂波
考题
单选题超声波探伤频率的选择，频率上限一般由衰减（底波出现状况）和（）信号的大小来决定。A
伤波B
脉冲波C
迟到回波D
草状回波
考题
单选题由粗晶组织引起的散射，在示波屏上会看到（）。A
工件底面回波B
始脉冲消失C
草状回波D
以上都不对
考题
单选题被检工件晶粒粗大，通常会引起：（）A
草状回波增多B
信噪比下降C
底波次数减少D
以上全部
考题
单选题检工件晶粒粗大，通常会引起（）A
草状回波增多B
信噪比下降C
底波次数减少D
以上全部
考题
多选题铸造金属的晶粒一般比较粗大，在超声波检测中会引起（）A底面回波降低或消失B信噪比降低C穿透能力下降D草波升高
考题
单选题描述探伤仪示波屏上由于试件的结构组织或小缺陷或上述两者所引起的大量低幅信号的术语是（）。A
底面多次回波B
探测面多次回波C
杂波D
共振信号
考题
单选题在阴极射线示波屏上显示的被检工件底面反射信号，称为（）。A
杂波B
始波C
发射脉冲D
底面回波
考题
单选题直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A
底面回波降低或消失B
底面回波不降低C
底面回波变窄D
以上都不对