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单选题
表面波探头用于探测工件()缺陷。
A

近表面

B

表面

C

内部

D

平面形


参考答案

参考解析
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考题 直探头主要用于探测()的缺陷。

考题 焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷 B.与探测面倾斜的缺陷 C.垂直于探测面的缺陷 D.不能用斜探头检测的缺陷

考题 焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

考题 下面关于各种探头作用的说法,哪一条是错误的?()A、纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B、横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C、表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D、兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷

考题 在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

考题 频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

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考题 表面波探头用于探测工件表面缺陷。

考题 接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

考题 表面波探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

考题 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

考题 聚焦探头一般用于()探测管材和板材.A、表面波法B、横波法C、直接法D、水浸法

考题 斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。

考题 双晶探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

考题 频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

考题 表面波探头用于探测工件()。

考题 斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷?

考题 问答题在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

考题 判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。A 对B 错

考题 填空题表面波探头用于探测工件()。

考题 填空题频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

考题 填空题频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

考题 单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A 联合双探头B 普通直探头C 表面波探头D 横波斜探头

考题 单选题双晶探头用于探测工件()缺陷。A 近表面B 表面C 内部D 平面形

考题 判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A 对B 错

考题 单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A 平行于探测面的缺陷B 与探测面倾斜的缺陷C 垂直于探测面的缺陷D 不能用斜探头检测的缺陷

考题 单选题表面波探头用于探测工件()缺陷。A 近表面B 表面C 内部D 平面形

考题 单选题下面关于各种探头作用的说法,哪一条是错误的?()A 纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B 横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C 表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D 兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷