考题
纵波双晶直探头检测工件时，对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。
考题
双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
考题
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
考题
以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少
考题
频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
考题
表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
考题
双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。
考题
频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
考题
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
考题
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷检测
考题
问答题在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。A
对B
错
考题
判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
填空题双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
考题
判断题纵波双晶直探头检测工件时，对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。A
对B
错
考题
单选题以下哪一条，不属于双晶探头的优点（）A
探测范围大B
盲区小C
工件中近场长度小D
杂波少
考题
判断题双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
填空题双晶联合探头，由于盲区较小，因此有利于发现（）缺陷的探测。
考题
单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A
近表面B
表面C
内部D
平面形
考题
判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A
对B
错
考题
单选题表面波探头用于探测工件（）缺陷。A
近表面B
表面C
内部D
平面形