考题
用双晶直探头对平面工件探伤时,最好的操作方法是使隔声层()于探头扫查方向。
考题
双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。
考题
在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
考题
双晶直探头的最主要用途是()。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
考题
在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有()。A、探头接触不良B、遇到材质衰减大的部位C、工件底面不平或工件内部有缺陷D、以上都对
考题
焊缝探伤中探头角度选择主要的依据是()。A、探测频率B、缺陷方向C、缺陷部位D、钢板的厚度
考题
超声波探伤时要求探头主声束覆盖探测部位全长,探伤时探头移动快,主声束对探测部位的覆盖不全面,而且反射波不明显,容易漏探。
考题
焊缝探伤中探头角度选择的主要依据是()。A、探测频率B、缺陷方向C、缺陷部位D、钢板的厚度
考题
超声波探伤中,能从各个方向都能探测到的缺陷是()缺陷。
考题
在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
考题
在超声波探伤中,斜探头主要用于探测什么缺陷?
考题
双晶探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
考题
超声波焊缝探伤中,用K2的探头探测T=25mm的对接焊缝,仪器按深度1:1调节扫描速度,探伤中在示波屏刻度18和30处出现两个缺陷波,求此两个缺陷在焊缝中的位置?
考题
在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为()。A、直射B、扫查C、反射D、折射
考题
在超声波探伤中,从各个方向都能探测到的缺陷是()缺陷。
考题
在工业设备的各种无损探伤方法中,()可以探测工件内部的缺陷,主要用于检验焊缝中有无气孔、夹渣、裂纹、未焊透等缺陷。A、超声波探伤B、磁粉探伤C、荧光探伤D、着色探伤
考题
钢轨探伤中,70度探头探测钢轨()部位的缺陷。
考题
填空题钢轨探伤中,70度探头探测钢轨()部位的缺陷。
考题
问答题在超声波探伤中,斜探头主要用于探测什么缺陷?
考题
问答题在超声波探伤中,直探头能发现什么样的缺陷?
考题
判断题双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
单选题双晶探头用于探测工件()缺陷。A
近表面B
表面C
内部D
平面形
考题
判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A
对B
错