考题
现场焊接的焊缝全断面探伤要用到()A、K2.5B、K1C、直探头D、串列式扫查架
考题
可以将实时超声仪器的探头归类为A、环阵、扇形扫查、线阵换能器B、仅为扇形换能器C、扇形、线阵、环阵、凸阵换能器D、静态换能器E、单晶片换能器
考题
主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。A、 交叉式B、 V型串列式C、 K型串列式D、 串列式
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
考题
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。
考题
用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行（）扫查，能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
考题
焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、（）、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。
考题
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的（）。
考题
以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。A、直探头在翼板上扫查探测B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C、直探头在腹板上扫查探测D、斜探头在腹板上扫查探测
考题
对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）。A、保持灵敏度不变B、适当提高灵敏度C、增加大K值探头探测D、以上B和C
考题
钢轨焊缝用的扫查装置，当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时，扫查间隔应不大于（）。A、15mmB、20mmC、25mmD、30mm
考题
焊缝探伤扫查轨脚五区时，K2.5探头向外偏10°纵向移动进行扫查。
考题
TB/T2658.21—2007规定，对钢轨焊缝轨底部位用双探头K型扫查时，灵敏度如何校准？
考题
在役焊缝双探头法宜用（）探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A、K1B、K2C、K3D、K0.8～K1
考题
使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A、探伤灵敏度B、扫查密度C、定位精度D、定量精度
考题
单选题主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。A
交叉式B
V型串列式C
K型串列式D
串列式
考题
单选题对有余高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）A
保持灵敏度不变B
适当提高灵敏度C
增加大K值探头探测D
以上B和C
考题
单选题对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时，应（）。A
保持灵敏度不变B
适当提高灵敏度C
增加大K值探头探测D
以上B和C
考题
问答题当用双探头法探测铝热焊缝时如何进行扫查？
考题
单选题以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。A
直探头在翼板上扫查探测B
斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C
直探头在腹板上扫查探测D
斜探头在腹板上扫查探测
考题
填空题焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、（）、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。
考题
单选题使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A
探伤灵敏度B
扫查密度C
定位精度D
定量精度
考题
填空题用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行（）扫查，能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
考题
单选题在役焊缝双探头法宜用（）探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A
K1B
K2C
K3D
K0.8～K1
考题
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A
平行于探测面的缺陷B
与探测面倾斜的缺陷C
垂直于探测面的缺陷D
不能用斜探头检测的缺陷
考题
判断题使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。A
对B
错
考题
填空题使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的（）。