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判断题
盲区内缺陷一概不能发现。
A

B


参考答案

参考解析
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考题 单选题连续x射线透照工件时,以下叙述正确的是()。A 第二半价层小于第一半价层B 第二半价层等于第一半价层C 第二半价层大于第一半价层D 实际半价层小于计算值

考题 单选题穿过式线圈的填充系数的范围为()。A 0~1B 0.5~1C 1~2D 1~10

考题 单选题目视检测显微镜的放大率为()A 物镜放大率与目镜放大率之积B 物镜放大率与目镜放大率之商C 物镜放大率与目镜放大率之和D 物镜放大率与目镜放大率之差的绝对值

考题 单选题在ASMESectionVIII中抽照时,底片最短有效长度应为多少?()A 3英寸B 6英寸C 8.5英寸D 12英寸

考题 单选题当检测大型锻件时,通常采用()A 轴向检测B 径向检测C A和B两者D 低频率和高频率都用

考题 填空题发光强度(光度,I)定义为(),单位为()

考题 填空题按JB3965-85标准,采用纵向磁化线圈计算磁化规范时都需要考虑试件的长径比()的大小,对于长径比L/D小于()的,应使用加长块,对于L/D大于15时,应取长径比的极大值()

考题 多选题按标准规定,对钢质II级焊缝单个条状夹渣为1/3扳厚,最小可为()mm,最大不超过()mm。A4B6C20D30

考题 单选题GB/T5777-2008标准规定:在需方未提出检验横向缺陷时,供方只检验什么缺陷,供需双方协商同意纵、横向缺陷的检验均可只在管子的什么上进行()A 表面、一个方向B 纵向、一个方向C 纵向、表面D 以上都不是

考题 单选题为了增加X射线的强度:()A 应增大管电流B 应减小管电流C 试样应远离胶片D 降低加于射线管的电压:

考题 单选题材料的声速与密度的乘积称为()A 材料的折射率B 材料的声阻抗C 材料的弹性常数D 材料的泊松比

考题 判断题同样大小的峰值磁化电流,交流比直流易于发现试件表面下的缺陷。A 对B 错

考题 单选题在某些情况下,在试件周围塞满铅层后作射线检测,其目的是()A 防止试件移动,以免造成影像模糊B 增加试件的对比度C 能产生较短的X光波长D 降低散射效应

考题 判断题焊接表面的飞溅、焊渣等物,可用蒸汽除油法去除。A 对B 错

考题 单选题轴类工件应选用()检测。A 感应电流磁化法B 磁轭法C 支杆触头接触通电法D 线圈法或轴向通电法

考题 判断题磁粉探伤中,凡有磁痕的部位都是缺陷。()A 对B 错

考题 单选题下列哪种铸件即使用1.25MHz以下频率探伤也可能会很困难()A 铸钢件B 铸铝件C 铸铁件D 不锈钢铸件

考题 问答题工业射线胶片系统分类新方法有哪些特点?

考题 单选题在进行清洗工序前,渗透剂在工件上保持润湿的时间应多长?()A 3分钟B 10分钟C 取决于所用渗透剂的类型、被检材料的种类、所要求的灵敏度以及被检缺陷的类型D 由于渗透剂几秒钟内就可以渗入任何尺寸的缺陷,所以在施加渗透剂后应尽可能快地进行冲洗

考题 判断题材料磁导率低(剩磁大)及直流磁化后,退磁磁场换向的次数(退磁频率)应较多,每次下降的磁场值应较小,且每次停留的时间(周期)要略长。A 对B 错

考题 问答题磁化线圈的磁场强度H=KI,磁力探伤机线圈实测的K值为80,指示该线圈电流的电流表为直流电表,对某零件要求H=400奥斯特进行直流磁化探伤时,电流表的指示值应为多少安培?

考题 单选题某试件经两次射线照相,除照射时间不同,其他条件均相同,量出第一次黑度最小为1.3,第二次最小为2.5,黑度最高均低于4.0,以下叙述中正确的是()A 第一次较易检出缺陷B 第二次较易检出缺陷C 对于缺陷检出力无法比较D 以上都对

考题 判断题无损检测工艺卡应由Ⅲ级人员编制、审核。A 对B 错

考题 单选题对乳化时间说法不正确的是()。A 在允许的背景前提下,乳化时间应尽量的短B 乳化时间与渗透剂种类无关C 乳化时间可通过实验确定D 乳化时间可采用厂家推荐的乳化时间

考题 单选题水浸法纵波探伤时,水距的选择应当是()A 第二次界面回波落在第一次底波之后B 第二次界面回波落在第一次底波之前C 第二次界面可处于任何位置

考题 单选题将空气中某点的照射量换成人体若处于该位置时,在体内相应点上的吸收剂量,其表达式为()A D空气(rad)=0.87Dx(R)B D物质=fDxC D人体=FDxD 以上都不对

考题 单选题晶体材料在应力作用下产生应变时引起晶体电荷的不对称分配,异种电荷向正反两面集中,材料的晶体就产生电场和极化。这种效应称为()。A 正压电效应B 逆压电效应C 机械品质因子D 介电常数

考题 问答题什么是多频涡流和远场涡流技术