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单选题
对于高能X射线的吸收剂量测量,下列观点哪个不正确( )
A
不能把电离室看作照射仪表去求吸收剂量
B
把空腔电离离室看作一个布拉格-格雷空穴
C
把介质中的吸收剂量与介质内较小的充气空腔中单位体积的电离相联系
D
把空腔电离室当作布拉格-格雷空腔测量吸收剂量时,不需要电子平衡条件
E
电离室不能当做电子探测器
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解析:
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更多 “单选题对于高能X射线的吸收剂量测量,下列观点哪个不正确( )A 不能把电离室看作照射仪表去求吸收剂量B 把空腔电离离室看作一个布拉格-格雷空穴C 把介质中的吸收剂量与介质内较小的充气空腔中单位体积的电离相联系D 把空腔电离室当作布拉格-格雷空腔测量吸收剂量时,不需要电子平衡条件E 电离室不能当做电子探测器” 相关考题
考题
指出高能X射线错误的吸收剂量校准深度:A.钴-605cmB.
指出高能X射线错误的吸收剂量校准深度:A.钴-605cmB.C.D.11MV-25MV7cmE.26MV-50MV10cm
考题
关于建成效应的描述,错误的是()A、从表面到最大剂量深度区域成为建成区域B、对高能X射线,一般都有剂量建成区域存在C、剂量建成区内表面剂量不能为零D、高能次级电子数随深度增加而增加,导致建成区域内总吸收剂量随深度而增加E、高能X射线建成区深度随能量增加而增加
考题
关于剂量建成区形成的原因,错误的是()A、高能X(γ)射线入射到人体或模体时,在体表或皮下产生高能次级电子B、虽然所产生的高能次级电子射程较短,但仍需穿过一定深度直至能量耗尽后停止C、在最大电子射程内高能次级电子产生的吸收剂量随组织深度增加而增加D、高能X(γ)射线随组织深度增加,产生的高能次级电子减少E、剂量建成区的形成实际是带电粒子能量沉积过程
考题
下列叙述正确的是哪个()A、低能量射线采用铜滤过板B、高能量射线采用铝滤过板C、高能量射线采用铜滤过板D、使用复合滤过板时原子序数大的朝向X线管E、使用复合滤过板时原子序数大的背向X线管
考题
对于X(r)射线,在固体模体中测量吸收剂量时,因水和固体对射线吸收不同,需对测量深度进行校正。固体模体中测量深度等于水中测量深度乘以水对介质的()A、平均线性衰减系数之比B、平均质量吸收系数之比C、质量阻止本领之比D、电子密度之比E、质量衰减系数之比
考题
单选题指出下面有关“碶形滤过板”的概念哪个不正确()A
碶形因数即射线中心轴上深度D处的有、无碶形板是的吸收剂量率之比B
对高能X线和钴60y线碶形因数的测量深度均为5CmC
50%等剂量线与中心轴上垂直线的夹角称为碶形角D
碶形野的百分深度量等于相同射野的无碶形板是的平E
野的百分深度量与碶形因数的乘积对高能X线,碶形板的材料一般用铅,低能(200kV)X线用铜,实际应用碶形板时,高能比低能好
考题
单选题高能电离辐射吸收剂量校准的IAEA方法与Cλ和CE方法的主要区别除外哪项()A
定义了电离室空气吸收剂量校准因子NDB
不再使用Cλ和CE转换因子C
引入了相对不同能量X(γ)射线和电子束的质量阻止本领D
引入了相对不同能量X(γ)射线和电子束的扰动因子E
用IAEA方法测量结果与量热法、化学剂量计方法的结果比较差别大于1%
考题
单选题下列叙述正确的是哪个()A
低能量射线采用铜滤过板B
高能量射线采用铝滤过板C
高能量射线采用铜滤过板D
使用复合滤过板时原子序数大的朝向X线管E
使用复合滤过板时原子序数大的背向X线管
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