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单选题
高能电离辐射吸收剂量校准的IAEA方法与Cλ和CE方法的主要区别除外哪项（）
A
定义了电离室空气吸收剂量校准因子ND
B
不再使用Cλ和CE转换因子
C
引入了相对不同能量X（γ）射线和电子束的质量阻止本领
D
引入了相对不同能量X（γ）射线和电子束的扰动因子
E
用IAEA方法测量结果与量热法、化学剂量计方法的结果比较差别大于1%
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考题
指出高能X射线错误的吸收剂量校准深度:A.钴－605cmB.
指出高能X射线错误的吸收剂量校准深度：A.钴-605cmB.C.D.11MV-25MV7cmE.26MV-50MV10cm
考题
空气中测定放射源的空气比释动能强度Sk的数学表达式（Sk=M*NK*RG*RS*d2*t）中，NK表示电离室及静电计对放射源的（）A、空气照射量校准因子B、空气比释动能校准因子C、空气吸收剂量校准因子D、水中比释动能校准因子E、水中吸收剂量校准因子
考题
目前我国使用电离室在临床测量吸收剂量，应用的是基于（）A、空气中照射量的校准系数规程B、空气中比释动能的校准系数规程C、空气中吸收剂量的校准系数规程D、水中比释动能的校准系数规程E、水肿吸收剂量的校准系数规程
考题
高能电离辐射吸收剂量校准的IAEA方法与Cλ和CE方法的主要区别除外哪项（）A、定义了电离室空气吸收剂量校准因子NDB、不再使用Cλ和CE转换因子C、引入了相对不同能量X（γ）射线和电子束的质量阻止本领D、引入了相对不同能量X（γ）射线和电子束的扰动因子E、用IAEA方法测量结果与量热法、化学剂量计方法的结果比较差别大于1%
考题
电离室经校准后的空气比释动能校准因子Nk=9.08×lO3Gy/div，次级电子在空气中以韧致辐射形式损失的能量份额为0.003，电子的平均电离能为33.97J/C，该电离室材料空气不完全等效的校正因子为0.991，设电离室材料（包括平衡帽）对射线吸收和散射的校正因子为0.990，则该用户电离室的空气吸收剂量校准因子是（）A、0.888×l0-2Gy/divB、0.891×l0-2Gy/divC、0.908×l0-2Gy/divD、2.291×l0-2Gy/divE、2.672×l0-2Gy/div
考题
吸收剂量测量的常用现场应用方法为（）A、电离室、热释光、半导体和量热法等B、电离室、半导体、量热法和化学剂量计法等C、电离室、半导体、量热法和胶片法等D、半导体、热释光、胶片法和化学剂量计等E、电离室、半导体、热释光和胶片法等
考题
关于电离室空气吸收剂量校准因子ND的描述，错误的是（）A、依赖于电离室的几何形状B、依赖于电离室的制作材料C、与电离室的比释动能校准因子NK有关D、与照射量校准因子NX有关E、与吸收剂量校准因子Cλ，CE有关
考题
当量剂量与吸收剂量的区别是（）A、当量剂量考虑了组织与器官对辐射的敏感度B、当量剂量考虑了生物组织实际吸收的电离辐射能量C、当量剂量考虑了射线的种类和能量D、当量剂量可更好地反映辐射导致的生物效应的强弱E、吸收剂量仅适用于X、γ射线，而当量剂量适用于任何射线
考题
单选题吸收剂量测量的常用现场应用方法为（）A
电离室、热释光、半导体和量热法等B
电离室、半导体、量热法和化学剂量计法等C
电离室、半导体、量热法和胶片法等D
半导体、热释光、胶片法和化学剂量计等E
电离室、半导体、热释光和胶片法等
考题
单选题电离室经校准后的空气比释动能校准因子Nk=9.08×lO3Gy/div，次级电子在空气中以韧致辐射形式损失的能量份额为0.003，电子的平均电离能为33.97J/C，该电离室材料空气不完全等效的校正因子为0.991，设电离室材料（包括平衡帽）对射线吸收和散射的校正因子为0.990，则该用户电离室的空气吸收剂量校准因子是（）A
0.888×l0-2Gy/divB
0.891×l0-2Gy/divC
0.908×l0-2Gy/divD
2.291×l0-2Gy/divE
2.672×l0-2Gy/div
考题
多选题用于杀菌的电离辐射有（）。A丙种射线B甲种射线C低能量电子束D高能量电子束E乙种射线
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