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单选题
通常经过射线检测，在底片上曝光较多的地方经过冲洗后，该处呈现（）
A

较黑

B

较白

C

无变化

D

清晰

参考答案

参考解析
解析： 暂无解析
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考题 按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，对于一次曝光完成多张胶片照相的情况，每张底片上都应有像质计影像。()
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考题 钢结构进行射线探伤时，射线穿过有缺陷部位后在底片上显示更黑。（ ）
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考题 利用射线源发出的贯穿辐射线穿透焊缝后使胶片感光，焊缝中的缺陷影像便显示在经过处理后的射线照相底片上，能发现焊缝内部气孔、夹渣等缺陷的检测方法是 ( )。 A. 射线探伤 B. 渗透探伤 C. 超声波探伤 D. 磁性探伤
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考题 通常经过射线检测，在底片上曝光较多的地方经过冲洗后，该处呈现（）A、较黑B、较白C、无变化D、清晰
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考题 未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的本底化学灰雾度。
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考题 在射线底片上呈现较大面积的树枝形影像是（）。
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考题 在胶片背面放一个“B”铅字，曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像，说明对背散射的防护适当。
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考题 点状夹渣和气孔在射线底片上均呈现出黑点状，所以两者不能区分开。
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考题 X射线检测时，对物件的穿透力是由（）决定的A、射源至底片的距离B、曝光时间C、KVD、mA
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考题 实时射线检测法（Real TimeRT）与传统RT的最大区别在于（）A、实时射线检测通常不采用底片B、实时射线检测通常采用电脑判读C、实时射线检测通常采用微焦点X光机D、实时射线检测通常使用在高能量RT
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考题 显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受折D、曝光后胶片受折
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考题 为了要改进射线检测的清晰度而选用低速底片时，需要（）A、较低的管电压B、较多的曝光时间C、较低的管电流D、较短的曝光时间
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考题 射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。
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考题 射线底片上产生亮的月牙形痕迹的原因可能是曝光前使胶片弯曲。
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考题 显影后呈现在底片上亮的皱褶痕迹是由于（）造成的A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受重物压迫D、曝光后胶片受重物压迫
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考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
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考题 显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的：（）A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前拿胶片不当D、曝光后拿胶片不当
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考题 X射线照相灵敏度取决于（）。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对
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考题 焊接缺陷在射线底片上呈现不同程度的黑色，较黑的斑点和条纹即是缺陷。若底片上多呈现带曲折的、波浪状的黑色条纹即是（）缺陷。A、未焊透B、夹渣C、裂纹
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考题 射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。
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考题 单选题实时射线检测法（Real TimeRT）与传统RT的最大区别在于（）A 实时射线检测通常不采用底片B 实时射线检测通常采用电脑判读C 实时射线检测通常采用微焦点X光机D 实时射线检测通常使用在高能量RT
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考题 单选题显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的？（）A 静电感光B 铅增感屏划伤C 曝光前胶片受折D 曝光后胶片受折
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考题 单选题X射线检测时，对物件的穿透力是由（）决定的A 射源至底片的距离B 曝光时间C KVD mA
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考题 判断题射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。A 对B 错
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考题 单选题为了要改进射线检测的清晰度而选用低速底片时，需要（）A 较低的管电压B 较多的曝光时间C 较低的管电流D 较短的曝光时间
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考题 单选题显影后呈现在底片上亮的皱褶痕迹是由于（）造成的A 静电感光B 铅增感屏划伤C 曝光前胶片受重物压迫D 曝光后胶片受重物压迫
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考题 单选题实时射线检测法（RealTimeRT）与传统RT的最大区别在于（）A 实时射线检测通常不采用底片B 实时射线检测通常采用电脑判读C 实时射线检测通常采用微焦点X光机D 实时射线检测通常使用在高能量RT
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