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单选题
使用L-J质控图，下列失控的是（）。
A
1次结果处于2s
B
2次结果连续处于一侧的2s之内
C
2～3次结果连续偏向横轴的一侧
D
3～4次结果连续偏向横轴的一侧
E
5～7次结果连续偏向横轴的一侧
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考题
Levey-Jennings质控图的质控规则有A、不应有连续5次以上结果在均值的同一侧B、将±2s线作为警告线C、不应有5次以上数值渐升或渐降D、将±3s线作为失控线E、不应有连续2次结果在±2s以外
考题
质控图上，当出现多少个连续质控检测点，超过均值+1s或均值-1s，且最近一次结果超过±2s值，但连续落在平均值的同一侧，视为失控，应及时查找原因，一般是A．2个B．4个C．10个D．8个E．10个以上
考题
使用L-J质控图，下列失控的是A、1次结果处于2sB、2次结果连续处于一侧的2s之内C、2～3次结果连续偏向横轴的一侧D、3～4次结果连续偏向横轴的一侧E、5～7次结果连续偏向横轴的一侧
考题
下列哪项检查结果错误:
A、一侧三叉神经损害，双侧角膜反射消失B、一侧三叉神经损害，下颌偏向健侧C、一侧面神经损害，口角歪向健侧D、一侧舌咽神经损害，悬雍垂偏向健侧E、一侧舌下神经损害，伸舌偏向患侧
考题
使用Levey-Jennings质控图，下列属于明显失控的是A、1次结果处于2SDB、2次结果连续处于一侧的2SD之内C、2～3次结果连续偏向横轴的一侧D、3～4次结果连续偏向横轴的一侧E、5～7次结果连续偏向横轴的一侧
考题
使用Levey-Jennings质控图，下列失控的是A:1次结果处于2SDB:2次结果连续处于一侧的2SD之内C:2～3次结果连续偏向横轴的一侧D:3～4次结果连续偏向横轴的一侧E:5～7次结果连续偏向横轴的一侧
考题
使用Levey-Jennings质控图，下列属于明显失控的是A.1次结果处于2SD
B.2次结果连续处于一侧的2SD之内
C.2～3次结果连续偏向横轴的一侧
D.3～4次结果连续偏向横轴的一侧
E.5～7次结果连续偏向横轴的一侧
考题
使用Levey-Jennings质控图，下列明显失控的是A.2～3次结果连续偏向横轴的一侧
B.2次结果连续处于一侧的2s之内
C.3～4次结果连续偏向横轴的一侧
D.5～7次结果连续偏向横轴的一侧
E.1次结果处于2s
考题
22S指的是（）A同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2s，表示存在随机误差B一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过X+1s或X-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E10个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
13S指的是表示存在随机误差（）A同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2sB一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E十个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
质控图上，当出现多少个连续质控检测点，超过均值+1s或均值-1s，且最近一次结果超过±2s值，但连续落在平均值的同一侧，视为失控，应及时查找原因，一般是（）.A、2个B、4个C、10个D、8个E、10个以上
考题
R4s指的是（ ）A、同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2s，表示存在随机误差B、一个质控结果超过±3S，为违背此规则，提示存在随机误差C、两个连续质控结果同时超过x+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D、一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E、10个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
下列关于常用质控规则的说法中正确的是（）A、41S：一个质控品连续4次测定结果都超过x+1s或x－1s，再加上2个质控品连续两次测定都超过x+1s或x－1s，为违背此规则，表示存在随机误差B、12s：一个质控结果超过x±2s，如违背此规则，提示失控C、R4s：同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过x+2s，另一质控结果超过x－2s，表示存在系统误差D、22s：两个连续质控结果同时超过x+2s或x－2s，为违背此规则，表示存在随机误差E、10x：十个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
10指的是（ ）A、同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2s，表示存在随机误差B、一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C、两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D、一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E、10个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
单选题10X指的是（）A
同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2s，表示存在随机误差B
一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C
两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D
一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E
10个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
单选题10指的是（ ）A
同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2s，表示存在随机误差B
一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C
两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D
一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E
10个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
单选题下列关于常用质控规则的说法中正确的是（）A
41S：一个质控品连续4次测定结果都超过x+1s或x－1s，再加上2个质控品连续两次测定都超过x+1s或x－1s，为违背此规则，表示存在随机误差B
12s：一个质控结果超过x±2s，如违背此规则，提示失控C
R4s：同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过x+2s，另一质控结果超过x－2s，表示存在系统误差D
22s：两个连续质控结果同时超过x+2s或x－2s，为违背此规则，表示存在随机误差E
10x：十个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
单选题13S指的是表示存在随机误差（）A
同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2sB
一个质控结果超过±3s，为违背此规则，提示存在随机误差C
两个连续质控结果同时超过+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D
一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E
十个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
单选题R4s指的是（ ）A
同批两个质控结果之差值超过4s，即一个质控结果超过+2s，另一质控结果超过-2s，表示存在随机误差B
一个质控结果超过±3S，为违背此规则，提示存在随机误差C
两个连续质控结果同时超过x+2s或-2s，为违背此规则，表示存在系统误差D
一个质控品连续的四次测定结果都超过+1s或-1s，两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s，为违背此规则，表示存在系统误差E
10个连续的质控结果在平均数一侧，为违背此规则，表示存在系统误差
考题
单选题下列哪项检查结果错误：（）A
一侧三叉神经损害，双侧角膜反射消失B
一侧三叉神经损害，下颌偏向健侧C
一侧面神经损害，口角歪向健侧D
一侧舌咽神经损害，悬雍垂偏向健侧E
一侧舌下神经损害，伸舌偏向患侧
考题
单选题使用L-J质控图，下列失控的是（）。A
1次结果处于2sB
2次结果连续处于一侧的2s之内C
2～3次结果连续偏向横轴的一侧D
3～4次结果连续偏向横轴的一侧E
5～7次结果连续偏向横轴的一侧
考题
多选题Levey-Jennings质控图的质控规则有（）A不应有连续5次以上结果在均值的同一侧B将±2s线作为警告线C不应有5次以上数值渐升或渐降D将±3s线作为失控线E不应有连续2次结果在±2s以外
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