网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
单选题
EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。
A

电流低于

B

电流高于

C

压力低于

D

压力高于


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
更多 “单选题EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 电流低于B 电流高于C 压力低于D 压力高于” 相关考题
考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A对B错

考题 EDI组件在给电不足的情况下运行,树脂内离子处于离子饱和状态时,应对EDI组件进行杀菌剂清洗。A对B错

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A对B错

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。A对B错

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低,其原因是()A树脂对离子的吸收速度随温度的升高而降低B离子迁移速度随温度的升高而降低C离子交换树脂对离子的选择性增强D离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律降低

考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。A对B错

考题 EDI组件给水电导率升高,离子交换树脂的工作前沿将向给水端移动,抛光层树脂总量减少,因此引起弱电解质清除率的降低,纯水电阻率随之降低。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。

考题 EDI组件实际运行()规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于

考题 EDI组件给水电导率升高,离子交换树脂的工作前沿将向给水端移动,抛光层树脂总量减少,因此引起弱电解质清除率的降低,纯水电阻率随之降低。

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。

考题 EDI组件在给电不足的情况下运行,树脂内离子处于离子饱和状态时,应对EDI组件进行杀菌剂清洗。

考题 EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是()。A、引起离子交换树脂中毒B、对离子交换树脂氧化催化作用,会造成树脂的永久损伤C、引起离子极化现象使产品水的电阻率降低D、离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低

考题 EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。

考题 多选题变价金属离子对EDI组件的影响是()。A引起离子交换树脂中毒B对离子交换树脂氧化催化作用,会造成树脂的永久损伤C引起离子极化现象使产品水的电阻率降低D离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低

考题 判断题EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A 对B 错

考题 单选题EDI组件给水电导率升高,离子交换树脂的工作前沿将向()端移动,抛光层树脂总量减少,因此引起弱电解质清除率的降低,纯水电阻率随之降低。A 增加B 减少C 出水D 给水

考题 判断题EDI组件给水电导率升高,离子交换树脂的工作前沿将向给水端移动,抛光层树脂总量减少,因此引起弱电解质清除率的降低,纯水电阻率随之降低。A 对B 错

考题 单选题EDI组件实际运行()规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A 电流低于B 电流高于C 压力低于D 压力高于

考题 判断题EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 对B 错

考题 判断题变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。A 对B 错

考题 单选题EDI运行有一个最佳温度范围,温度低于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低,其原因是()A 树脂对离子的吸收速度随温度的升高而降低B 离子迁移速度随温度的升高而降低C 离子交换树脂对离子的选择性增强D 离子通过膜的扩散能力随温度的降低按指数规律降低

考题 判断题EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。A 对B 错