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单选题
EDI运行有一个最佳温度范围,温度低于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低,其原因是()
A

树脂对离子的吸收速度随温度的升高而降低

B

离子迁移速度随温度的升高而降低

C

离子交换树脂对离子的选择性增强

D

离子通过膜的扩散能力随温度的降低按指数规律降低


参考答案

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考题 EDI浓水出口与入口压差增加的主要原因是()。A.产品水出口有异物堵塞B.运行流量增加C.离子交换膜结垢或污堵D.运行温度升高

考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A对B错

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A对B错

考题 EDI的浓水出口对入口的压差增加的主要原因是()。A产品水出口有异物堵塞B运行流量增加C离子交换膜结垢或污堵D运行温度升高

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低,其原因是()A树脂对离子的吸收速度随温度的升高而降低B离子迁移速度随温度的升高而降低C离子交换树脂对离子的选择性增强D离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律降低

考题 EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是离子迁移速度随温度的升高而加快。A对B错

考题 如果给水温度过,离子通过膜的扩散能力会按指数规律降低,因此使EDI的除盐能力下降,水质降低。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

考题 EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是离子迁移速度随温度的升高而加快。

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。

考题 EDI组件实际运行()规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于

考题 EDI的产品水对给水的压差增加的主要原因是()。A、产品水出口有异物堵塞B、运行流量增加C、离子交换膜结垢D、运行温度升高

考题 EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于

考题 如果给水温度过,离子通过膜的扩散能力会按指数规律降低,因此使EDI的除盐能力下降,水质降低。

考题 EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。

考题 EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是()。A、离子迁移速度随温度的升高而加快B、水的粘度随温度的升高而降低C、树脂对离子的吸收速度随温度的升高而加快D、离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律升高

考题 单选题EDI的浓水出口对入口的压差增加的主要原因是()。A 产品水出口有异物堵塞B 运行流量增加C 离子交换膜结垢或污堵D 运行温度升高

考题 判断题EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A 对B 错

考题 单选题EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 电流低于B 电流高于C 压力低于D 压力高于

考题 单选题EDI的产品水对给水的压差增加的主要原因是()。A 产品水出口有异物堵塞B 运行流量增加C 离子交换膜结垢D 运行温度升高

考题 单选题EDI组件实际运行()规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A 电流低于B 电流高于C 压力低于D 压力高于

考题 判断题EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 对B 错

考题 判断题如果给水温度过,离子通过膜的扩散能力会按指数规律降低,因此使EDI的除盐能力下降,水质降低。A 对B 错

考题 判断题EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是离子迁移速度随温度的升高而加快。A 对B 错

考题 单选题EDI运行压力损失随温度的升高而降低,其主要原因是()。A 离子迁移速度随温度的升高而加快B 水的粘度随温度的升高而降低C 树脂对离子的吸收速度随温度的升高而加快D 离子通过膜的扩散能力随温度的升高按指数规律升高

考题 判断题EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。A 对B 错